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Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀 詳細摘要： Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀*結(jié)合了背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動態(tài)光散射技術(shù)以及硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相...
產(chǎn)品型號： 所在地：北京市 更新時間：2024-09-02 參考價： 面議 在線留言
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美國布魯克海文儀器公司 |
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—— 銷售熱線 ——
18094238319 |
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