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北京來(lái)亨科學(xué)儀器有限公司
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首頁(yè) >> 技術(shù)文章 >> 透射電子顯微技術(shù)TEM應(yīng)用原理
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分析原理：高能電子束穿透試樣時(shí)發(fā)生散射、吸收、干涉和衍射，使得在相平面形成襯度，顯示出圖象
譜圖的表示方法：質(zhì)厚襯度象、明場(chǎng)衍襯象、暗場(chǎng)衍襯象、晶格條紋象、和分子象
提供的信息：晶體形貌、分子量分布、微孔尺寸分布、多相結(jié)構(gòu)和晶格與缺陷等
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