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GB/T2423.22-2002測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
閱讀：944 發(fā)布時(shí)間：2018-8-2
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GB/T2423.22-2002標(biāo)準(zhǔn)介紹
GB/T2423.22-2002是關(guān)于《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化》的試驗(yàn)方法，溫度變化試驗(yàn)適用于確定一次或連續(xù)多次溫度變化對(duì)試驗(yàn)樣品的影響。本試驗(yàn)不能用來(lái)考核僅由高溫或低溫所引起的影響，對(duì)這種影響，應(yīng)使用高溫或低溫試驗(yàn)方法。目前該標(biāo)準(zhǔn)已經(jīng)廢止，現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)版本為GB/T 2423.22-2012。
▼GB/T2423.22-2002第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)
GB/T2423.22-2002PDF資料
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