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粉體材料粒度的檢測可采用篩分法、沉降法、電阻法、激光法、電鏡法等多種方法。每一種方法都有各自的特點，檢測結果也可能會有差異。對于粒度較細或比重較小的顆粒，采用后三種方法的檢測結果比較可靠。例如，我們通常加工zui大粒徑約為15~20μm的產品，這幾種儀器測量結果雖有差異，但相差不是很大。如果用沉降法測量，可能會產生較大的測量誤差。
顆粒群體通常由大量大小不同的顆粒組成。按粒徑大小分為若干級數，表示出每一個級數顆粒的相對含量，稱為微分分布；表示出小于某一級數顆粒的總含量，稱為累積分布。
zui大粒徑是粒度分布曲線中zui大顆粒的等效直徑。平均粒徑是粒度分布曲線中累積分布為50%時的zui大顆粒的等效直徑。D90粒徑、D95粒徑、D98粒徑分別是分布曲線中累積分布為90%、95%、98%時的zui大顆粒的等效直徑。
分析圖示的粒度分布曲線可以看出：如果以zui大粒徑來衡量粉體的等級，可標為16μm或800目全通過。如果以D90粒徑（或“90%通過粒度”）來表示，粉體的等級可提高到6μm或2000目。如果以D50粒徑（或“平均粒徑”、“中位徑”）來表示，粉體的等級便會躍升到可到2.8μm或4500目。由此可見，選擇不同的積累分布數據來表示粒度指標，會得到差異極大的不同概念。
在此再舉一個例子，有一批超細粉體檢測數據。按照粒度分布表取得數據，zui大粒徑約為2.96μm（或4000目全通過），如要突出宣傳效果，也可以改變?yōu)镈90粒徑為1.54μm(或8000目)、平均粒徑為0.99μm(或12500目)的粒度指標。
由此推理，如想知道某一種超細粉是否達到幾千目甚至是一兩萬目的細度，就要認真了解使用什么類型的設備加工，是小樣試驗還是成批生產隨機抽樣，用什么方法檢測，更要了解是在哪一級積累分布取得的粒度數據，才能了解這批粉體材料的真實質量指標。
目數前加正負號則表示能否漏過該目數的網孔。負數表示能漏過該目數的網孔，即顆粒尺寸小于網孔尺寸；而正數表示不能漏過該目數的網孔，即顆粒尺寸大于網孔尺寸。例如，顆粒為-100目~+200目，即表示這些顆粒能從100目的網孔漏過而不能從200目的網孔漏過，在篩選這種目數的顆粒時，應將目數大（200）的放在目數?。?00）的篩網下面，在目數大（200）的篩網中留下的即為-100~+200目的顆粒。
