大塚電子從其創(chuàng)立之初就以光散射技術和分離技術為基礎，這些技術不僅是公司的技術根源，也是新材料分析的核心技術并以這些技術開發(fā)、生產和銷售好的產品。利用光散射技術的產品是大塚電子歷史最悠久的產品系列之一。在許多大學、機構和企業(yè)中，做為功能材料和新材料物性評估測量設備被高度評價。在接受各方面的建議和幫助下，不斷開發(fā)絕對分子量測定、微粒子粒徑測定和電位測定設備，并在各應用領域進行改進。同時，從基礎研究到質量控制的用途不斷擴大，在這一領域已經成為日本好的國產制造商，獲得了高的信任。

利用光散射作為新材料分析的核心技術，并將其應用于納米技術領域的物性測量。以粒子大小、電位和分子量的測量方法作為基準，拓展新材料、生命科學、高分子化學，以及半導體和醫(yī)藥等領域的應用。

OTSUKA大塚多樣品納米粒子徑測試系統(tǒng)是一臺通過動態(tài)光散亂法（DLS法）測量粒徑（粒徑0.6nm~10um）的裝置。支持從稀薄到濃厚系廣泛濃度范圍內的多檢體測定的新光學系統(tǒng)，實現了實驗室必需的輕量、小型化、標準1分鐘的高速測定。 另外，這是一款非浸泡型、不受接觸器影響、無需自動取樣器、標準配備“5檢體連續(xù)測量"的新產品。

Otsuka大塚多樣品納米粒子徑測試系統(tǒng)● 1臺便可實再5個樣品的連續(xù)測量

實現了在沒有自動取樣器的情況下難以連續(xù)測量的多個樣品

可以改變每個樣品的條件進行測量

● 可以對應從稀薄到濃厚的樣品

● 標準測量時間1分的高度測量

Otsuka大塚多樣品納米粒子徑測試系統(tǒng)自動調整從濃厚系到稀薄系樣品的最佳測量位置，實現約1分鐘的高速測量

● 配備簡單測量功能(點擊一鍵即可開始測量)

沒有任何復雜的操作，簡單易懂的軟件

● 因為每個樣品槽都是獨立的，沒有接觸污染的風險。

● 搭載溫度梯度功能

● 粒徑0.6nm～10μm

● 濃度范圍 0.00001～40％

● 溫度范圍0～90℃^*

各類日系工業(yè)品:,SSD西西蒂(離子風扇)、AND愛安得（電子天平）、SAN-EI三英(點膠閥） HOYA光源,KURABO脫泡機,USHIO牛尾照度計,Tsubosaka壺坂電機,IMV愛睦威,PISCO匹士克接頭,hakko八光電機,lambda拉姆達膜厚儀,MUSASHI武藏,SAKURAI櫻井,aitec艾泰克,otsuka大塚（膜厚儀、粒度儀）,Hitachi日立（掃描電鏡）,MIKASA米卡薩（旋涂設備、顯影）、POLARION普拉瑞、AITEC艾泰克（檢查光源）、Iwasaki巖崎、OTSUKA大塚電子（光學膜厚儀）、KOSAKA小坂（臺階儀）、HORIBA堀場儀器（分析儀）、SIBATA柴田科學（環(huán)境測定）、TORAY東麗濃度儀（氧氣分析儀）、yamada山田鹵素強光燈、CEDAR思達