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Otsuka大塚顯微分光膜厚儀易操作適用于各種可透光膜層的測試，并有可針對透明基板去除背面反射，從而達到“真實反射率、膜厚"測試的目的。此外，軟件操作簡單、使用...

Otsuka大塚 顯微分光膜厚儀性價比高適用于各種可透光膜層的測試，并有可針對透明基板去除背面反射，從而達到“真實反射率、膜厚"測試的目的。此外，軟件操作簡單、...

Otsuka大塚 顯微分光膜厚儀簡單操作適用于各種可透光膜層的測試，并有可針對透明基板去除背面反射，從而達到“真實反射率、膜厚"測試的目的。此外，軟件操作簡單、...

Otsuka大塚顯微分光膜厚儀操作簡單非接觸OPTM系列使用物鏡，可以物理去除內(nèi)部反射，即使是透明基板也可以實現(xiàn)高精度測量。此外，對具有光學(xué)異向性的膜或SiC等...

Otsuka大塚 多通道光譜儀 易使用MCPD-6800是用于分光檢測與分析的基本系統(tǒng)?？梢运查g進行分光光譜的測量,也可以通過自由組合的光學(xué)系和豐富的配件，搭建...

Otsuka大塚多通道光譜儀產(chǎn)品信息 特長 應(yīng)用廣泛的測量儀。 以高機型MCPD-9800為首，一共有3種對應(yīng)12波長領(lǐng)域的測量儀。 我們可以根據(jù)客戶的需求和用...

Otsuka大塚彩色光刻膠測量裝置易使用產(chǎn)品信息 特點 以透過光譜測量、色測量為代表，通過濃度測量、膜厚測量、反射光譜測量等，可對應(yīng)彩色濾光片制造工程中的所有檢...

Otsuka大塚彩色濾光片測量裝置 易使用產(chǎn)品信息 特點 以透過光譜測量、色測量為代表，通過濃度測量、膜厚測量、反射光譜測量等，可對應(yīng)彩色濾光片制造工程中的所有...

Otsuka大塚 液晶層間隙量測設(shè)備易使用產(chǎn)品信息 特 點 采用了偏光光學(xué)系和多通道分光檢出器 有可對應(yīng)各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學(xué)素子到第10代的大型基...

Otsuka大塚彩色濾光片測量裝置 精度高產(chǎn)品信息 特點 以透過光譜測量、色測量為代表，通過濃度測量、膜厚測量、反射光譜測量等，可對應(yīng)彩色濾光片制造工程中的所有...

Otsuka大塚彩色濾光片測量裝置 測量精度高產(chǎn)品信息 特點 以透過光譜測量、色測量為代表，通過濃度測量、膜厚測量、反射光譜測量等，可對應(yīng)彩色濾光片制造工程中的...

Otsuka大塚彩色濾光片測量裝置產(chǎn)品信息 特點 以透過光譜測量、色測量為代表，通過濃度測量、膜厚測量、反射光譜測量等，可對應(yīng)彩色濾光片制造工程中的所有檢查的裝...

Otsuka大塚彩色濾光片測量裝置 產(chǎn)品信息 特點 以透過光譜測量、色測量為代表，通過濃度測量、膜厚測量、反射光譜測量等，可對應(yīng)彩色濾光片制造工程中的所有檢查的...

Otsuka大塚彩色光刻膠測量裝置 測量精度高產(chǎn)品信息 特點 以透過光譜測量、色測量為代表，通過濃度測量、膜厚測量、反射光譜測量等，可對應(yīng)彩色濾光片制造工程中的...

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Otsuka大塚彩色光刻膠測量裝置高精度產(chǎn)品信息 特點 以透過光譜測量、色測量為代表，通過濃度測量、膜厚測量、反射光譜測量等，可對應(yīng)彩色濾光片制造工程中的所有檢...

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Otsuka大塚 ZETA電位·粒徑·分子量測試系統(tǒng)ELSZ series的高級機型，除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進行zeta電位（Zeta ...

Otsuka大塚ZETA電位·粒徑·分子量測試系統(tǒng)ELSZ series的高級機型，除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進行zeta電位（Zeta P...