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JKZC-DR-200mRF或者JKZC-DL-200mRF（R代表右邊，L代表左邊） 主要慘數(shù)：.進口高剛性絲桿螺距:0.25mm/rev ;?X/Y/Z行程...

產(chǎn)品型號JKZC-UC-JKZC-DR4產(chǎn)品參數(shù)-鐵磁屏蔽箱,屏蔽外界信號對測試的干擾，提升測試精度；?向上開門設計，空氣彈簧結(jié)構(gòu),帶接地端子；-高壓，大電流測...

?整機外形尺寸:約380mmL*300mmW*320mm H,重量:約10 kg；?雙探針座平臺鍍鏢設計，提高了針座平臺和針座之間的吸附力；? ChJKZC-U...

原位拉伸冷熱臺 JK-LS500采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現(xiàn)-190~600℃溫度下材料的動態(tài)應力應變特性測試，可與顯微分析、電學分析相結(jié)合。原位拉伸冷熱...

JKZC-UTS150微型冷熱腔是一種適配μTS拉伸臺的產(chǎn)品，包含拉伸、壓縮、三點彎模塊。產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現(xiàn)-100~50℃ (高溫以實際數(shù)...

探針熱臺JK-600S是一款針對研究樣品變溫電學性能測試而設計的產(chǎn)品，可表征樣品電學性能隨溫度變化的特征。產(chǎn)品采用電阻加熱的方式，實現(xiàn)RT~600℃范圍內(nèi)精準控...

探針冷熱臺JK-600C是一款針對研究樣品變溫電學性能測試而設計的產(chǎn)品，可表征樣品電學性能隨溫度變化的特征。產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現(xiàn)-190~60...

半導體冷熱臺JK-120BPE、BPE100采用半導體冷熱控制，配合循環(huán)水散熱，實現(xiàn)從-25~120℃（選型）的控溫。無需液氮等致冷劑，具有無噪聲、無振動等特點...

半導體冷熱臺JK-120BCH采用半導體致冷，配合低溫循環(huán)液，實現(xiàn)從-40到180℃（選型）的控溫。

JK-150BPE型半導體冷熱臺又稱帕爾貼冷熱臺，利用半導體的熱-電效應制冷，配合循環(huán)水散熱，在 -30~150℃的溫度范圍內(nèi)進行控溫，實現(xiàn)樣品在開放式 / 氣...

Instruments拉伸機冷熱臺拉伸機冷熱臺是一種安裝在萬能試驗機上研究樣品在變溫條件下進行應力應變測試的產(chǎn)品。產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現(xiàn)-190...

JKZC-ST200型小型金剛石線切割機專為材料研究人員設計，用于脆性材料分析樣品的精密切割，例如晶體、陶瓷、玻璃、耐火材料、巖樣、礦樣、建筑材料、金屬、塑料、...

光學熱臺JK-GH600S是一款針對研究樣品變溫光學性能測試而設計的產(chǎn)品，可表征樣品光學性能隨溫度變化的特征。

光學冷熱臺JK-GH600-190是一款針對研究樣品變溫光學性能測試而設計的產(chǎn)品，可表征樣品光學性能隨溫度變化的特征。

光學冷熱臺是一款針對研究樣品變溫光學性能測試而設計的產(chǎn)品，可表征樣品光學性能隨溫度變化的特征。

-190~400℃納米級控制精度探針電動控制結(jié)構(gòu)緊湊 適用真空環(huán)境詳細參數(shù)

探針冷熱臺是一款針對研究樣品變溫電學性能測試而設計的產(chǎn)品，可表征樣品電學性能隨溫度變化的特征。產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現(xiàn)-190~600℃（選型）或...

JK-600CH190P4D型外部調(diào)節(jié)探針冷熱臺

JK-XRD原位冷熱臺是一種安裝在X-射線衍射儀上研究樣品變溫X-射線衍射的附件。產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，提供-190~600℃（選型）或RT~100...

冷熱臺是一種在掃描電子顯微鏡（SEM）標準樣品臺上（無需改造電鏡內(nèi)部），提供樣品原位變溫測試的電鏡附件。通過外接法蘭裝置實現(xiàn)對冷熱臺上的樣品進行控溫，穩(wěn)定后溫控...