Spectra S/TEM 掃描透射電子顯微鏡 參考價(jià)：30000000
Spectra S/TEM 掃描透射電子顯微鏡新的檢測功能，使科學(xué)家和工程師能夠獲得以前難以獲得的原子級(jí)數(shù)據(jù)，以滿足更廣泛的應(yīng)用需求。該平臺(tái)可以獲得極其光束敏感...
Talos 透射電鏡 參考價(jià)：15000000
Talos 透射電鏡的配置適合開展材料研究和生命科學(xué)研究，是一款融合了眾多創(chuàng)新技術(shù)的多功能系統(tǒng)，能夠在未來數(shù)年里滿足您的研究需求。
Krios G4冷凍透射電子顯微鏡（cryo-TEM） 參考價(jià)：40000000
Krios G4冷凍透射電子顯微鏡（cryo-TEM）是該系列產(chǎn)品中設(shè)計(jì)緊湊的。通過對機(jī)械底座框架和設(shè)備外殼的全新設(shè)計(jì)，該款設(shè)備凈身高縮短至3 m以內(nèi)，適用于任...
冷凍透射電鏡Krios G4 Cryo-TEM 參考價(jià)：面議
冷凍透射電鏡Krios G4 Cryo-TEM使用無邊緣效應(yīng)成像 (FFI) 可在每個(gè)樣品區(qū)采集更多的圖像，從而提高了圖片采集的日產(chǎn)出。 聽聽 FFI 如何幫助...
冷凍透射電鏡Tundra Cryo-TEM 參考價(jià)：面議
冷凍透射電鏡Tundra Cryo-TEMSmart EPU 軟件：一種支持 AI 的軟件解決方案，可為數(shù)據(jù)收集提供反饋。包括一個(gè)開放的應(yīng)用程序編程接口
300KV冷凍透射電鏡Krios G4 Cryo-TEM 參考價(jià)：面議
300KV冷凍透射電鏡Krios G4 Cryo-TEM使用無邊緣效應(yīng)成像 (FFI) 可在每個(gè)樣品區(qū)采集更多的圖像，從而提高了圖片采集的日產(chǎn)出。 聽聽 FFI...
透射電鏡Spectra Ultra S/TEM 參考價(jià)：面議
透射電鏡Spectra Ultra S/TEM高亮度肖特基場發(fā)射槍，配備超穩(wěn)定單色器和加速電壓，可調(diào)諧能量分辨率范圍為 1eV-0.05eV（60kV 下 0....
200KV透射電鏡Spectra 200 TEM 參考價(jià)：面議
200KV透射電鏡Spectra 200 TEM使用無邊緣效應(yīng)成像 (FFI) 可在每個(gè)樣品區(qū)采集更多的圖像，從而提高了圖片采集的日產(chǎn)出。 聽聽 FFI 如何幫...
Glacios 2 冷凍透射電鏡 參考價(jià)：面議
Glacios 2 冷凍透射電鏡可無縫集成到單顆粒分析和冷凍電子斷層掃描工作流程中，并且可在整個(gè)工作流程中實(shí)現(xiàn)便捷、無污染的樣本轉(zhuǎn)移。
半導(dǎo)體計(jì)量透射電鏡 Metrios AX TEM 參考價(jià)：面議
半導(dǎo)體計(jì)量透射電鏡 Metrios AX TEM全新設(shè)計(jì)，提供可重復(fù)的基于 TEM 和 STEM 的成像、分析和具備計(jì)量能力的計(jì)量器。
120KV透射電鏡Talos L120C TEM 參考價(jià)：面議
120KV透射電鏡Talos L120C TEM 全新設(shè)計(jì)，提供可重復(fù)的基于 TEM 和 STEM 的成像、分析和具備計(jì)量能力的計(jì)量器。
200 kV場發(fā)射透射電鏡 Talos F200i TEM 參考價(jià)：面議
200 kV場發(fā)射透射電鏡 Talos F200i TEM4k × 4k Ceta CMOS 攝像機(jī)及其大視野使得可以在整個(gè)高張力范圍內(nèi)以高靈敏度和高...
最深入的材料分析透射電鏡 Talos F200X TEM 參考價(jià)：面議
最深入的材料分析透射電鏡 Talos F200X TEM快速、精確的定量 EDS 分析可在 2D 和 3D 中揭示納米級(jí)細(xì)節(jié)，同時(shí)保持高潔凈度。
高稱度冷凍透射電鏡 Talos F200C TEM 參考價(jià)：面議
高稱度冷凍透射電鏡 Talos F200C TEM全新設(shè)計(jì)，提供可重復(fù)的基于 TEM 和 STEM 的成像、分析和具備計(jì)量能力的計(jì)量器。
Prisma E sem掃描電子顯微鏡 參考價(jià)：2000000
新一代Prisma E Prisma E sem掃描電子顯微鏡可搭載Thermo Scientific ColorSEM技術(shù)，該技術(shù)將傳統(tǒng)的SE或者BSE成像技...
賽默飛（原FEI）Apreo場發(fā)射掃描電子顯微鏡 參考價(jià)：3000000
賽默飛（原FEI）Apreo場發(fā)射掃描電子顯微鏡所有功能都能通過簡單的樣品處理和熟悉的 xT UI 獲得，節(jié)省了新用戶和專家級(jí)用戶的時(shí)間?？勺远x的用戶界面提供...
賽默飛（原FEI）Quattro 進(jìn)口掃描電鏡 參考價(jià)：4000000
賽默飛（原FEI）Quattro 進(jìn)口掃描電鏡將成像和分析的全面性能與環(huán)境模式（ESEM）相結(jié)合，使得樣品研究得以在自然狀態(tài)下進(jìn)行。
賽默飛 原FEI掃描電鏡 參考價(jià)：5000000
賽默飛 原FEI掃描電鏡Verios XHR SEM 是FEI 的 XHR（分辨率）SEM 系列的第二代產(chǎn)品。在尖部半導(dǎo)體制造和材料科學(xué)應(yīng)用中，它可在 1 至 ...
賽默飛（原FEI）Volumescope 2 sem掃描電鏡 參考價(jià)：7000000
賽默飛（原FEI）Volumescope 2 sem掃描電鏡簡單易用，讓使用者能夠精準(zhǔn)的控制實(shí)驗(yàn)，已驗(yàn)證的解決方案適用于各種樣品類型，保證數(shù)據(jù)采集的每一步都達(dá)到...
Axia ChemiSEM掃描電鏡 參考價(jià)：面議
Axia ChemiSEM掃描電鏡重新定義掃描電鏡工作流程，讓使用體驗(yàn)更加愉悅。
Verios 5 XHR SEM超高分辨掃描電鏡 參考價(jià)：面議
Verios 5 XHR SEM超高分辨掃描電鏡利用亞納米分辨率和高材料對比度進(jìn)行納米材料表征和分析。
Quattro ESEM環(huán)境掃描電鏡 參考價(jià)：面議
Quattro ESEM環(huán)境掃描電鏡環(huán)境掃描電鏡(ESEM)，用于研究包括含水樣品在內(nèi)的各種樣品。
Prisma E環(huán)境掃描電鏡 參考價(jià)：面議
Prisma E環(huán)境掃描電鏡這種始終在線的分析能力可極大提高您的工作效率，并獲取最完整的樣品信息。
Apreo 2 SEM場發(fā)射掃描電鏡 參考價(jià)：面議
Apreo 2 SEM場發(fā)射掃描電鏡340mm內(nèi)寬，12個(gè)端口，最多同時(shí)安裝三個(gè)EDS（兩個(gè)互為180°），EDS、EBSD共面安裝并與樣品臺(tái)的傾轉(zhuǎn)軸...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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