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# 2024年新品發(fā)布會(huì)#
日期：2024年9月29日
時(shí)間：8：30-18：30
近期我司新推出升級了 SHASHIN寫真化學(xué) 進(jìn)口供應(yīng)紅外吸收涂層測厚儀
使用光吸收法可以測量半透明片材、低反射膜、有機(jī)硅等的厚度，這是使用光學(xué)干涉的反射光譜膜測厚儀難以做到的。
這是一種可以通過顯微圖像光譜以高分辨率可視化薄膜厚度分布的薄膜厚度計(jì)。
可以以 10 nm 或更低的高分辨率測量顯微鏡視野內(nèi)某個(gè)區(qū)域內(nèi)透明多層薄膜的厚度分布。
由于它是一種使用光學(xué)干涉法的反射光譜方法，因此很容易獲得 0.1nm 或更小的膜厚精度。
