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當前位置:北京盈思拓科技有限公司>>產(chǎn)品展示>>分析表征設備>>形貌成分表征
隨著快速數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)處理技術的發(fā)展,電子顯微鏡進入了一個不僅重視數(shù)據(jù)質(zhì)量,而且重視其采集過程的時代
以“更高畫質(zhì)、更易于使用、更易于觀察"為理念,開發(fā)出TM4000系列
型號:DektakXTDektakXT探針式輪廓儀采用革命性的臺式設計,可實現(xiàn)4Å(0.4nm)的優(yōu)異重復性,掃描速度可提高40%
DimensionFastScan原子力顯微鏡(AFM)系統(tǒng)經(jīng)過專門設計,在不降低分辨率、不失去力控制、不增加設備復雜性,不帶來繁瑣操作的前提下,即可實現(xiàn)快速掃...
BrukerDimensionlcon"原子力顯微鏡為工業(yè)界和科研界納米領域的研究者帶來了全新的應用體驗,具有高水平的性能、功能和配件選擇,其測試功能強大,操作...
系統(tǒng)配置豐富,高分辨θ/θ閉環(huán)測角儀驅(qū)動系統(tǒng)、多位自動換樣系統(tǒng)、包括多層膜反射鏡平行光系統(tǒng)的全自動光學系統(tǒng)和二維陣列半導體探測器,配合功能齊全的控制和分析軟件,...
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