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涂層測厚儀采用磁測和渦流兩種測厚方法
閱讀：1895 發(fā)布時間：2022-3-18
涂層厚度的測量方法主要有：楔形切割法、光切割法、電解法、厚度差測量法、稱重法、X射線熒光法、β射線背散射法、電容法、磁測量法和渦流測量法等。這些方法中的前五種是破壞性測試。涂層測厚儀采用磁測和渦流兩種測厚方法，可無損測量磁性金屬基材（如鋼、鐵、合金、硬磁鋼）上非磁性涂層（如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等）的厚度?？蛇M行零點校準(zhǔn)和兩點校準(zhǔn)，探頭的系統(tǒng)誤差可通過基本校準(zhǔn)方法進行校正。
1、精度高：測量范圍0-2000um，精度≤±（3%）讀數(shù)+2μm），測量數(shù)據(jù)與進口涂層測厚儀一致。
2、綜合測量：可以無損測量磁性基體上非磁性涂層的厚度和非磁性基體上非導(dǎo)電涂層的厚度。
3、操作簡單：0.5秒快速測量，無需校準(zhǔn)，只需調(diào)零，只需按鍵，操作非常簡單。
4、體積小：主機與探頭一體化設(shè)計，體積小，便于手持?jǐn)y帶。
5、使用壽命長：探頭采用紅寶石探頭，極耐磨耐腐蝕，可確保儀器長期有效使用。
涂層測厚儀有兩種測量模式：連續(xù)測量模式和單次測量模式。它有兩種工作模式：直接模式和組模式。具有刪除功能：刪除測量中的單個可疑數(shù)據(jù)，或刪除存儲區(qū)中的所有數(shù)據(jù)重新測量。
涂層測厚儀測量原理：
1、磁性測厚法：當(dāng)探頭與金屬基體表面的涂層接觸時，由于非磁性涂層的存在，探頭與磁性金屬基體形成閉合磁路。涂層的厚度可以通過測量磁路磁阻的變化來計算。
2、渦流測厚法：利用高頻交流電在線圈中產(chǎn)生的電磁場，當(dāng)探頭與鍍層接觸時，在金屬基體上產(chǎn)生渦流并對線圈產(chǎn)生反饋作用。涂層的厚度可以通過測量反饋效應(yīng)的大小得出。