XF-A5是西凡儀器推出的一款銷(xiāo)售國(guó)內(nèi)外的貴金屬檢測(cè)儀，可廣泛應(yīng)用于珠寶零售店，展廳，回收，首飾工廠、貴金屬提純等行業(yè)和單位，該產(chǎn)品搭載美國(guó)AMPTEK定制Si-PIN探測(cè)器，內(nèi)置工控電腦, 能夠快速、無(wú)損的對(duì)未知金屬進(jìn)行定性定量分析。

產(chǎn)品特點(diǎn)

元素檢測(cè)范圍：鉀(19)～鈾(92)  

可支持最多30個(gè)元素同時(shí)計(jì)算

錸鎢檢測(cè)報(bào)警

分析范圍：0.010%～99.999%

檢測(cè)精度：±0.03%（9999金）

檢測(cè)樣品：貴金屬合金

支持多點(diǎn)連續(xù)測(cè)試，測(cè)試效率高

支持連接天平采集重量數(shù)據(jù)以及獲取黃金實(shí)時(shí)牌價(jià)計(jì)算價(jià)格

支持自動(dòng)計(jì)算多結(jié)果的平均值和RSD

核心部件

探測(cè)器：美國(guó)AMPTEK定制Si-PIN

探測(cè)器面積：6mm²

分辨率：145±5eV

內(nèi)置工控電腦：Intel i3十核

高壓電源：50KV/1mA數(shù)字高壓電源

X射線管：50KV/1mA

窗口材料：鋁

靶材：鎢

焦點(diǎn)：Φ0.5mm

準(zhǔn)直器：Φ2.5mm