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RIGAKUT日本理學(xué)WaferX 310 系列 用于薄膜評估的 X 射線熒光光譜儀

時(shí)間:2025/4/23閱讀:231
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WaferX 310 系列

用于薄膜評估的 X 射線熒光光譜儀

波長色散 X 射線熒光光譜儀 (WD-XRF) 可以無損、非接觸式方式同時(shí)分析 300 mm 和 200 mm 晶圓上各種薄膜的厚度和成分。

這是一種波長色散 X 射線熒光光譜儀 (WD-XRF),可以無損、非接觸的方式同時(shí)分析 300 mm 和 200 mm 晶圓上各種薄膜的厚度和成分。 它與 GEM300 兼容,并支持 300mmFab 的在線規(guī)格。 XYθZ 驅(qū)動(dòng)式樣品臺(tái)可準(zhǔn)確分析各種金屬膜,避免了衍射線的影響。 使用 4kW 高功率 X 射線管可以測量痕量元素。 此外,通過安裝高靈敏度硼檢測器,可以高精度地分析超輕元素,例如 BPSG 薄膜中的硼分析。 它是同類產(chǎn)品中第一個(gè)配備樣品高度校正功能和自動(dòng)校準(zhǔn)(全自動(dòng)日常檢查和強(qiáng)度校正功能)的儀器。


WaferX 310 在線同步 WDXRF 光譜儀


WaferX 310 規(guī)格

產(chǎn)品名稱WaferX 310 系列
技術(shù)波長色散 X 射線熒光光譜法 (WD-XRF)
晶圓上 300 mm、200 mm 以及各種薄膜厚度和成分
科技4 kW 高功率 X 射線源,通過工廠自動(dòng)化處理 WDXRF
主要組件多達(dá) 21 個(gè)通道,固定類型(?Be 到 ??U),掃描類型(??Ti 到 ??U),CE 標(biāo)志,GEM-300,SEMI S2/S8
選擇300 mm 工廠自動(dòng)化
控制 (PC)內(nèi)部 PC、MS Windows®作系統(tǒng)
本體尺寸1200 (寬) x 1950 (高) x 2498 (深) 毫米
質(zhì)量1166 kg(主機(jī))
權(quán)力三相 200 VAC 50/60 Hz,50 A



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