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FETS-2000b 薄膜鐵電性能綜合測(cè)試儀具有動(dòng)態(tài)電滯回線(xiàn)(DHM)、I-V特性、脈沖(PUND)、靜態(tài)電滯回線(xiàn)(SHM)、疲勞(FM)、漏電流(LM)、電流-偏壓、保持力(RM)、印跡(IM)的測(cè)試功能.，可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲(chǔ)器等領(lǐng)域的研究。

FETS-2000b 薄膜鐵電性能綜合測(cè)試儀與探針臺(tái)配套使用，可實(shí)現(xiàn)薄膜的鐵電性能測(cè)試。薄膜鐵電性能綜合測(cè)試儀的動(dòng)態(tài)電滯回線(xiàn)測(cè)試頻率和激勵(lì)測(cè)試電源，用戶(hù)可根據(jù)需要進(jìn)行選擇，動(dòng)態(tài)電滯回線(xiàn)測(cè)試頻率范圍為1mHz～500kHz可選，激勵(lì)測(cè)試電源±10/30/100/200/500VAC可選，也可根據(jù)用戶(hù)需要進(jìn)行定制。

測(cè)試功能：

• 動(dòng)態(tài)電滯回線(xiàn)(DHM)

• I-V特性

• 脈沖(PUND)

• 靜態(tài)電滯回線(xiàn)(SHM)

• 疲勞(FM)

• 漏電流(LM)

• 電流-偏壓

• 保持力(RM)

• 印跡(IM)

可擴(kuò)展部件：

• 探針臺(tái)