基于半導體芯片行業(yè)的不斷發(fā)展，無錫冠亞射頻芯片高低溫自動測試機也推廣向消費者，那么，對于射頻芯片高低溫自動測試機系統(tǒng)大家有什么了解呢？

　　射頻芯片高低溫自動測試機作為冷源，在技術(shù)應(yīng)用上結(jié)構(gòu)簡單，整個射頻芯片高低溫自動測試機由熱點堆和導線組成，噪聲少，磨損少，壽命長，可靠性高，制冷溫度和冷卻速度可以通過工作電流來控制，控制靈活，啟動快。

　　由于溫度控制電路要求驅(qū)動TEC的電流是雙向的，我們選擇應(yīng)用TEC的開關(guān)式H橋功率驅(qū)動電路，則流經(jīng)TEC的電流方向從右向左。當半導體激光器的工作溫度低于設(shè)定的溫度點時，H橋按TEC制熱的方向以一定的幅值輸出電流；當半導體激光器的工作溫度高于設(shè)定的溫度點時，H橋會減少TEC的電流甚至反轉(zhuǎn)TEC的電流方向來降低半導體激光器的溫度。當控制環(huán)路達到平衡時，TEC電流的方向和幅值就調(diào)整好了，此時半導體激光器的工作溫度等于設(shè)定的溫度。

　　射頻芯片高低溫自動測試機電路在接收到控制信號以后，控制TEC的工作時間，通過控制TEC的工作電流的大小來控制它的功率，從而控制它對激光器的制冷效果，保證激光器工作在穩(wěn)定狀態(tài)。在系統(tǒng)設(shè)計實現(xiàn)時，因為熱敏電阻和制冷器已經(jīng)和激光器固定在模塊中，模塊給出了相應(yīng)的管腳。

　　射頻芯片高低溫自動測試機整流輸出部分采用的總體方案是PWM脈寬調(diào)制，利用脈寬調(diào)制技術(shù)控制開關(guān)電路導通時間，從而改變系統(tǒng)控制部分的平均電流，改變半導體制冷器的功率，實現(xiàn)溫度控制，PWM脈寬調(diào)制器利用AT89C2051實現(xiàn)。將溫度探測電路送來的信號送入PWM脈寬調(diào)制器，經(jīng)過和預(yù)先設(shè)定好的溫度值進行比較、運算，調(diào)整輸出脈寬，加到一個開關(guān)器件上，通過控制其導通時間、輸出平均電壓，從而改變電流。

　　射頻芯片高低溫自動測試機PID控制中，kp、TI和TD這3個參數(shù)的確定對實現(xiàn)高精度控制至關(guān)重要，在溫度控制過程中，由于NTC和TEC等器件具有熱慣性，在半導體激光器的溫度控制過程中，可以將溫度控制部分作為一階慣性加純延遲環(huán)節(jié)建立數(shù)學模型。

　　射頻芯片高低溫自動測試機溫度控制方案，保持溫度在-45℃到250℃，控制進出口溫度，更有效的測試半導體芯片效果。

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