2英寸/4英寸低溫探針臺(tái) 參考價(jià)：10000
桌面型入本級低溫探針臺(tái)，高校，研究院，實(shí)驗(yàn)室常備
連續(xù)流低溫探針臺(tái) 參考價(jià)：10000
連續(xù)流低溫探針臺(tái)
磁場低溫探針臺(tái) 參考價(jià)：10000
連續(xù)流磁場低溫探針臺(tái)
閉循環(huán)低溫探針臺(tái)- 參考價(jià)：10000
閉循環(huán)低溫探針臺(tái)-
雙面探針臺(tái)/PCB探針臺(tái) 參考價(jià)：100000
PCB雙面測試系統(tǒng)
手動(dòng)|MPI 6英寸高功率探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
探針臺(tái)制造商的高功率探針臺(tái),大功率探針臺(tái),手動(dòng)|MPI 6英寸高功率探針臺(tái)適用于高功率器件量測和其他多種晶圓量測應(yīng)用，如組件特性描述和建模，晶圓級可靠性。
全自動(dòng)板級植球機(jī) 參考價(jià)：面議
bga植球機(jī)，全自動(dòng)板級植球機(jī)MIZAR BM-4500測試提供的BGA/SOCKET植球設(shè)備以及高度定制化的方案服務(wù)，滿足STRIP類以及單顆產(chǎn)品的高精度、高...
GP200探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
探針臺(tái)制造商,GP200探針臺(tái)包含DC~THZ測試所需的完整配置，能夠在短時(shí)間內(nèi)準(zhǔn)確地完成測試要求。 提供專業(yè)的測試方案，能夠?qū)崿F(xiàn)高品質(zhì)的I-V、C-V、RF ...
GP300探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
高功率探針臺(tái),GP300探針臺(tái)讓您的芯片測試更加簡單，機(jī)臺(tái)可輕松實(shí)現(xiàn)DC ~ THZ測量，提供芯片級I-V / C-V低噪聲測試系統(tǒng)方案。
HED-W5100D 全自動(dòng)晶圓ESD測試機(jī) 參考價(jià)：面議
晶圓ESD測試機(jī),ESD（靜電放電）測試是在半導(dǎo)體可靠性測試期間進(jìn)行的。ESD測試對于半導(dǎo)體設(shè)計(jì)的開發(fā)和半導(dǎo)體制造的最終生產(chǎn)過程中的質(zhì)量保證都是不可少的。HED...
HANWA HED-T5000 傳輸線脈沖 (TLP)測試設(shè)備 參考價(jià)：面議
tlp測試設(shè)備,TLP靜電測試儀是對保護(hù)電路的工作特性進(jìn)行模擬測試的設(shè)備。對集成電路里保護(hù)電路的工作參數(shù)的收集與分析有很大幫助。也可進(jìn)行VF-TLP測試
8英寸高低溫探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
高低溫真空探針臺(tái),GP200SE 8英寸高低溫探針臺(tái)包含DC~THZ測試所需的完整配置，能夠在最短時(shí)間內(nèi)準(zhǔn)確地完成測試要求。提供專業(yè)的測試方案，能夠?qū)崿F(xiàn)高品質(zhì)的...
GP半自動(dòng)探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
國產(chǎn)半自動(dòng)探針臺(tái)，GP2000-SE 高低溫探針臺(tái)。機(jī)臺(tái)可輕松實(shí)現(xiàn)DC ~ THZ測量，提供芯片級I-V / C-V低噪聲測試系統(tǒng)方案?？蓱?yīng)用于I-V/C-V/...
HANWA HED-C5000R CDM測試設(shè)備 參考價(jià)：面議
CDM測試儀,CDM測試設(shè)備適用于汽車芯片可靠性測試AEC標(biāo)準(zhǔn)中~靜電CDM測試設(shè)備
全自動(dòng)芯片ESD測試設(shè)備 參考價(jià)：8000000
Hanwa ESD HED-G5000 全自動(dòng)芯片ESD測試設(shè)備近年來，自動(dòng)駕駛技術(shù)逐漸成為Tier1汽車電子智能系統(tǒng)的超前優(yōu)良技術(shù)，解決自動(dòng)駕駛技術(shù)的關(guān)鍵在于...
SiP模塊多芯片裝片機(jī) 參考價(jià)：2000000
高精度的混合多芯片貼裝，適配復(fù)雜模塊單程生產(chǎn)。主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)的各種模塊貼裝/倒裝，包括光模塊，系統(tǒng)級封裝（SIP），攝像頭模組等。關(guān)鍵軸均采用高精度直線電...
多功能芯片分選機(jī) 參考價(jià)：2000000
支持膜到膜、膜到盒、盒到盒、盒到盒芯片分選，切換更靈活。支持芯片視覺2D檢測，焊頭恒力控制，芯片分選更可靠。
PIV 脈沖IV測試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
高功率脈沖PIV測試系統(tǒng)，由MauryMicrowave和AMCAD Engineering提供的IVCAD高級測量和建模軟件支持多種負(fù)載牽引技術(shù)，包括使用外部...
太赫茲負(fù)載牽引系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
射頻探針臺(tái)負(fù)載牽引通過有源VMU+軟件，可以搭載keysight的VNA+extender的太赫茲網(wǎng)絡(luò)分析儀上，實(shí)現(xiàn)非50歐姆環(huán)境下，大信號(hào)條件下微波全參數(shù)測試...
硅光探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
硅光探針臺(tái),GP200-SIP系列8英寸探針臺(tái)包含硅光芯片的DC&RF&OO測試所需的完整配置，在短時(shí)間內(nèi)可準(zhǔn)確地完成芯片的參數(shù)測試與提取。GP200擁有穩(wěn)定且...
射頻探針 參考價(jià)：面議
現(xiàn)代射頻集成電路的設(shè)計(jì)調(diào)試和測試是另一項(xiàng)復(fù)雜的任務(wù)。 除了射頻輸入和輸出信號(hào)外，設(shè)備還需要無振蕩偏置以及數(shù)字控制信號(hào)（例如，用于改變放大器的增益）。所有這些都需...
射頻探針 參考價(jià)：面議
現(xiàn)代射頻集成電路的設(shè)計(jì)調(diào)試和測試是另一項(xiàng)復(fù)雜的任務(wù)。 除了射頻輸入和輸出信號(hào)外，設(shè)備還需要無振蕩偏置以及數(shù)字控制信號(hào)（例如，用于改變放大器的增益）。所有這些都需...
射頻探針 參考價(jià)：10000
現(xiàn)代射頻集成電路的設(shè)計(jì)調(diào)試和測試是另一項(xiàng)復(fù)雜的任務(wù)。 除了射頻輸入和輸出信號(hào)外，設(shè)備還需要無振蕩偏置以及數(shù)字控制信號(hào)（例如，用于改變放大器的增益）。所有這些都需...
射頻探針 參考價(jià)：10000
現(xiàn)代射頻集成電路的設(shè)計(jì)調(diào)試和測試是另一項(xiàng)復(fù)雜的任務(wù)。 除了射頻輸入和輸出信號(hào)外，設(shè)備還需要無振蕩偏置以及數(shù)字控制信號(hào)（例如，用于改變放大器的增益）。所有這些都需...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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