xdlm 237 -菲希爾x射線熒光測厚儀信息：

x射線：德國菲希爾FISCHERSCOPE-X-RAY XDLM x射線熒光鍍層測厚和資料剖析儀是普遍適用的能量色散X射線光譜儀。 它們構(gòu)成了成熟的FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-C4模型系列開發(fā)的下一步。 像它們的前輩一樣，它們特別合適于無損厚度丈量和薄涂層剖析以及批量消費的零件和印制板上的自動丈量。有三個型號：XDLM 231具有平面支撐臺，XDLM 232具有手動操作的X / Y臺。 XDLM 237裝備了一個電動X / Y平臺，當(dāng)翻開防護(hù)罩時，該平臺會自動移到裝載位置。

應(yīng)用實例：

XDLM丈量系統(tǒng)經(jīng)常用來丈量接插件和觸點的各種底材上的Au/Ni, Au/PdNi/Ni, Ag/Ni或Sn/Ni鍍層的厚度。通常功用區(qū)都是很小的構(gòu)造如先進(jìn)或突起，丈量這些區(qū)域必需運用很小的準(zhǔn)直器或合適樣品外形的準(zhǔn)直器。例如丈量橢圓形樣品時，就要運用開槽的準(zhǔn)直器以取得*大的信號強度。