菲希爾X射線熒光鍍層測厚儀它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時還能檢測大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。XDL230有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率，這樣就可以進(jìn)行高精度測量。

由于采用了Fischer的全基本參數(shù)法，該儀器既能測量和分析涂層系統(tǒng)，又能測量和分析固體和液體樣品，而不需要標(biāo)準(zhǔn)件。Xd230特別適合客戶進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)貨檢驗和生產(chǎn)過程監(jiān)控。

FISCHERSCOPE X射線XDL 230是一款桌面測量儀器，具有友好的用戶界面。手動操作X-Y工作臺和電機驅(qū)動Z軸系統(tǒng)。高分辨率彩色攝像機具有強大的放大功能，可以準(zhǔn)確定位測量位置。通過視頻窗口，還可以實時觀察測量過程和進(jìn)度。測量盒底部的槽是專門為面積大、形狀扁平的樣品設(shè)計的，使儀器可以測量比測量盒更長、更寬的樣品。例如大型印刷電路板。帶有放大倍率和十字線的集成視頻顯微鏡簡化了樣品放置，并允許精確調(diào)整測量點。所有的儀器操作、測量數(shù)據(jù)的計算、測量數(shù)據(jù)報告的清晰顯示都可以通過WinFTM軟件在計算機上完成，功能強大，界面友好。XD-L涂層厚度測量和材料分析儀是一種受保護的儀器，其型式許可符合德國“Deutsche rntgenverordnung-RV"法規(guī)。