菲希爾代理X射線測厚儀介紹
菲希爾X射線測厚儀Fischer Fischescope x-ray XAN 500是一款可移動(dòng)使用并且應(yīng)用廣泛的能量色散型射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。菲希爾X射線測厚儀它特別適用于鍍層厚度的無損測量及材料分析。 適用于客戶進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。
菲希爾X射線測厚儀典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：
• 測量大型工件的鍍層，如：機(jī)械零件和外殼
• 在電鍍過程中進(jìn)行移動(dòng)實(shí)時(shí)測量
• 對(duì)合金材料進(jìn)行移動(dòng)實(shí)時(shí)檢測
菲希爾X熒光射線測厚儀正如所有的Fischescope x-ray菲希爾熒光光譜鍍層分析儀器一樣，F(xiàn)ischescope x-ray XAN 500儀器有著出色的精-確性以及長期的穩(wěn)定性，這樣就顯著減少了校準(zhǔn)儀器所需的時(shí)間和精力。菲希爾X熒光射線測厚儀*的硅漂移探測器能夠達(dá)到非常高的分析精度及探測靈敏度。依靠菲希爾的*基本參數(shù)法，可以在沒有校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度。
