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涂層測(cè)厚儀測(cè)量方法簡(jiǎn)述：

磁性測(cè)厚法

適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測(cè)量。導(dǎo)磁材料一般為：鋼\鐵\銀\鎳。此種方法測(cè)量精度高。

渦流測(cè)厚法

適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測(cè)量，此種方法較磁性測(cè)厚法精度低。

超聲波測(cè)厚法

國(guó)內(nèi)還沒(méi)有用此種方法測(cè)量涂鍍層厚度的，國(guó)外個(gè)別廠家有這樣的儀器，適用多層涂鍍層厚度的測(cè)量或則是以上兩種方法都無(wú)法測(cè)量的場(chǎng)合.但一般價(jià)格昂貴、測(cè)量精度也不高。

電解測(cè)厚法

此方法有別于以上三種，不屬于無(wú)損檢測(cè)，需要破壞涂鍍層，一般精度也不高，測(cè)量起來(lái)較其他幾種麻煩。

放射測(cè)厚法

涂層測(cè)厚儀

涂層測(cè)厚儀(1張)

此種儀器價(jià)格非常昂貴（一般在10萬(wàn)RMB以上），適用于一些特殊場(chǎng)合。

光熱測(cè)厚法

基于*熱光學(xué)技術(shù)(ATO)和數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)(DSP)，涂魔師實(shí)現(xiàn)非接觸式涂層無(wú)損測(cè)厚技術(shù)。

該系統(tǒng)通過(guò)計(jì)算機(jī)控制光源以脈沖方式加熱待測(cè)涂層，其中內(nèi)置的高速紅外探測(cè)器從遠(yuǎn)處記錄涂層表面溫度分布并生成溫度衰減曲線。表面溫度的衰減時(shí)間取決于涂層厚度及其導(dǎo)熱性能。最后利用專門(mén)研發(fā)的算法分析表面動(dòng)態(tài)溫度曲線計(jì)算測(cè)量待測(cè)的涂層厚度。