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| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,地礦,電子/電池,航空航天,電氣 | 溫度范圍 | -196~400℃ |
|---|---|---|---|
| 溫度分辨率 | 0.1℃ | 控溫精度 | 0.5℃ |
| 升溫速率 | （1-30）K/min 程序控制 | 降溫速率 | （1-20）K/min 程序控制 |
TS400-R-Y 溫控探針系列專門針對材料電學(xué)測試而設(shè)計(jì)的一款產(chǎn)品，溫度范圍為-196~400℃，全程溫度穩(wěn)定性控制0.5℃以內(nèi)，采用四探針法可表征材料升溫和降溫階段電阻率隨溫度變化的特征。
產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
冷熱臺(tái)廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、高分子聚合物、液態(tài)晶體、冶金等各種研究領(lǐng)域。冷熱臺(tái)可以跟光學(xué)顯微鏡、共聚焦顯微鏡、激光拉曼、傅里葉紅外光譜儀、X射線衍射儀等設(shè)備聯(lián)用，用于材料在變溫條件下的研究和表征。
TS400-R-Y 溫控探針系列專門針對材料電學(xué)測試而設(shè)計(jì)的一款產(chǎn)品，溫度范圍為-196~400℃，全程溫度穩(wěn)定性控制0.5℃以內(nèi)，采用四探針法可表征材料升溫和降溫階段電阻率隨溫度變化的特征。
TS400-R-Y 溫控探針系列特點(diǎn)
1、可表征材料在升溫和降溫時(shí)段電阻率隨溫度變化
2、四線法測量材料電阻率，可消除接觸電阻影響
3、測量薄膜和塊體材料，適用于多種應(yīng)用場景 升降溫速率快，可大幅縮短測試時(shí)間 緊湊結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，占地空間小
參數(shù)規(guī)格
項(xiàng)目 | 技術(shù)參數(shù) | |
溫控參數(shù) | 溫度范圍 | -196~400℃ |
溫度分辨率 | 0.1℃ | |
控溫精度 | 0.5℃ | |
加熱方式 | 加熱棒加熱 | |
升溫速率 | （1-30）K/min 程序控制 | |
降溫速率 | （1-20）K/min 程序控制 | |
電學(xué)參數(shù) | 測試物理量 | 變溫過程中電阻率連續(xù)采集 |
電阻率測試誤差 | ≤10% | |
重復(fù)測試誤差 | ≤3% | |
電阻測量范圍 | 1×10-6Ω~ 1×108Ω | |
其它參數(shù) | 真空度 | ≤1Pa |
主機(jī)尺寸 | 140m*100mm*60mm | |
整機(jī)功率 | 250W | |
主機(jī)凈重 | 0.8Kg | |
溫控器尺寸 | 480mm（W）× 360mm（D）× 160mm（H） | |
測試圖譜
采用四探針法測量電阻率
