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箱式氣氛爐中爐內(nèi)氣氛對(duì)熱元件的影響？
1、氧化碳和二氧化碳：在含碳?xì)夥罩校囥t和鐵鉻鋁合金電熱元件假定運(yùn)用溫度不髙，元件表面上純的氧化膜保護(hù)層在一段時(shí)間內(nèi)是能夠阻遏碳化的，跟著運(yùn)用溫度的升高，在某一溫度范圍內(nèi)，鎳鉻元件的穩(wěn)定性偶然降低，鐵鉻鋁元件的穩(wěn)定性盡管也降低，但不是偶然的。
2、氮?dú)猓鸿F鉻合金電熱元件直接暴露在氮?dú)庵羞\(yùn)用，其壽數(shù)比在空氣中低，這是由于鐵鉻合金中首要的元素鉻和鋁與氮的親和力很強(qiáng)，正如上述鎳與硫的親和力很強(qiáng)相同。高溫時(shí)在飽滿的氮?dú)庵羞\(yùn)用，氧化膜保護(hù)層被損壞而生成了氧化物，一起還使合金內(nèi)部的鋁分離出來(lái)，也生成了氮化物。
3、單調(diào)空氣和純氧：鐵鉻鋁和鎳鉻合金電熱資料在單調(diào)空氣中運(yùn)用能抗氧化；純氧對(duì)它們沒(méi)有害處。 若在元件表面涂覆對(duì)元件無(wú)危害的高溫?zé)o機(jī)涂層，使之牢固地黏附在元件表面上，起到比元件自身生成的純氧化膜保護(hù)層更為有用的保護(hù)作用，這樣可阻遏材料的碳化。 穩(wěn)定性降低的表象闡明元件表面純氧化膜保護(hù)層逐漸遭到損壞，碳進(jìn)入生成了某些碳化物。不論這些碳化物是沉積在晶界上，仍是沉積在晶體內(nèi)部，都是有害的。由于這些碳化物的共晶 熔點(diǎn)比較低，假定繼續(xù)運(yùn)用，元件有能夠被熔斷；即便沒(méi)有熔斷，碳化或再氧化也會(huì)更換進(jìn)行，使沉積在晶體內(nèi)部的碳化物變?yōu)檠趸镆莩?，元件基體的嚴(yán)密組織因而遭到損壞而發(fā)作裂縫。