直流探針

GGB ST 系列硬針 （鎢材質(zhì)，常用款，推薦）

ST 系列硬針是 0.020 inch (0.51mm) 直徑鎢材質(zhì)針桿經(jīng)過精密電化學(xué)加工成為不同的針尖直徑 ， 長(zhǎng)度為 1.5inch(38.1mm)的探針。  這種探 針應(yīng)用與絕大多數(shù)的芯片電極點(diǎn)測(cè)和線路點(diǎn)測(cè)。 ST 系列硬針可以用于與刮擦或者刺穿芯片表面鈍化層。 該探針可以選擇表面鍍鎳，如果選擇 鍍鎳則型號(hào)后面增加 “NP"。

                                         ST 系列探針尺寸圖

ST 系列探針實(shí)物

優(yōu)測(cè)國(guó)芯電子科技（深圳）有限公司是一家致力于提供半導(dǎo)體和自動(dòng)化設(shè)備綜合解決方案的自主創(chuàng)新型技術(shù)企業(yè)。我們集研發(fā)、生產(chǎn)、銷售和服務(wù)于一體，不僅擁有*的生產(chǎn)設(shè)備、加工工藝及品質(zhì)檢測(cè)體系，也擁有涉及材料、物理、化學(xué)、微電子、機(jī)械等專業(yè)的技術(shù)團(tuán)隊(duì)?，F(xiàn)在主營(yíng)的產(chǎn)品有：4寸、6寸、8寸、12寸手動(dòng)探針臺(tái)、高壓大功率探針臺(tái)、真空高低溫探針臺(tái)，半自動(dòng)探針臺(tái)，全自動(dòng)探針臺(tái)等，可以完成I-V/C-V測(cè)試，脈沖I-V測(cè)試，RF/mmW測(cè)試，高壓、大電流測(cè)試，MEMS、光電器件等測(cè)試。專業(yè)的設(shè)計(jì)人員也可以按客戶的要求量身定制，如搭配光電流掃描成像或拉曼-瞬態(tài)熒光壽命成像系統(tǒng)、太陽(yáng)能發(fā)生器、多普勒測(cè)試儀、積分球等，在常規(guī)探針臺(tái)功能上進(jìn)行延伸拓展來滿足不同客戶的測(cè)試需求。