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MICROTEST 6621系列LCR測(cè)試儀提供10Hz～30MHz寬頻率范圍測(cè)量元件/材料阻抗特性，測(cè)量參數(shù)包括|Z|(阻抗)、|Y|(導(dǎo)納)、θ(相位角)、...

MICROTEST 6630系列提供10Hz-50MHz寬頻率范圍測(cè)量元件/材料阻抗特性，測(cè)量參數(shù)包括|Z|(阻抗)、|Y|(導(dǎo)納)、θ(相位角)、X(電抗)、...

MICROTEST 6360系列提供20kHz/100kHz/500kHz/1MHz測(cè)量頻率，測(cè)量參數(shù)包括|Z|（阻抗）、|Y|（導(dǎo)納）、θ（相位角）、X（電抗...

MICROTEST 6365A/6367A LCR測(cè)試儀提供0.1Hz-200k/1MHz頻率范圍，可用于電化學(xué)阻抗或電池材料測(cè)試。其極低起始頻率從0.1Hz開...

TH2816P 提供穩(wěn)定的 7 位測(cè)試分辨率，而 TH2816A+ / TH2816B+ 則繼續(xù)保持 6 位測(cè)試分辨率，基本頻率和測(cè)試電平指標(biāo)和 TH2816A...

測(cè)試頻率：20Hz-500kHz，高穩(wěn)定性和一致性：14個(gè)量程配置，高功率：信號(hào)電平：20VAC/100mAAC，內(nèi)置直流偏置：±40V/100mA，...

測(cè)試頻率：20Hz-500kHz，高穩(wěn)定性和一致性：14個(gè)量程配置，高功率：信號(hào)電平：20VAC/100mAAC，內(nèi)置直流偏置：±40V/100mA，...

2.8英寸真彩TFT液晶顯示屏，10kHz的測(cè)量頻率，恒定100Ω源內(nèi)阻。

采用高性能32位ARM微處理器控制，超低功耗設(shè)計(jì)和高密度SMD裝配工藝，2.8英寸真彩16M色TFT液晶顯示屏，主副參數(shù)同時(shí)顯示，擺脫了工作臺(tái)的限制，為您移動(dòng)L...

基礎(chǔ)型LCR電橋，帶報(bào)警功能，測(cè)試頻率：100Hz,120Hz,1kHz,10kHz

50Hz-100kHz，共20個(gè)典型測(cè)試頻率，192x64點(diǎn)陣圖形LCD顯示。

真彩4.3寸液晶顯示，5位測(cè)試分辨率，50Hz-100kHz的頻率范圍、0.1V / 0.3V / 1V可編程信號(hào)電平、高達(dá)12次/秒的測(cè)量速度。

50Hz~100kHz，0.01Hz步進(jìn)，帶DCR功能，L,Rd同時(shí)顯示，1V可編程測(cè)試電平。

50Hz-200kHz，37 點(diǎn)，帶DCR功能，L,Rd同時(shí)顯示，1V可編程測(cè)試電平。

20Hz-200kHz，0.01Hz步進(jìn)，帶DCR功能，L,Rd同時(shí)顯示，50mV-2V可編程測(cè)試電平。

20Hz-1MHz多頻率點(diǎn)以及0.05%的精度，采用7英寸800x480彩色TFT LCD顯示器，圖形掃描分析功能，支持頻率/電平/偏置掃描。

BA2826高精密數(shù)字電橋是一種用于各種電子元器件檢驗(yàn)的多功能元件參數(shù)測(cè)試儀。采用7英寸800x480彩色TFT LCD顯示器，高速、穩(wěn)定。20Hz-5MHz多...

AT825手持LCR 數(shù)字電橋100Hz~10kHz的測(cè)量頻率，恒定100Ω源內(nèi)阻，0.6Vrms測(cè)量電平，0.2%的測(cè)量精度，兼?zhèn)淞耸殖直淼谋銛y型和臺(tái)式儀器的...

AT826手持LCR 數(shù)字電橋100Hz~100kHz的測(cè)量頻率，恒定100Ω源內(nèi)阻，0.6Vrms測(cè)量電平，0.2%的測(cè)量精度，兼?zhèn)淞耸殖直淼谋銛y型和臺(tái)式儀器...

AT3810A采用真彩TFT-LCD顯示，全中文操作界面(可配置成英文界面)。采用大字體顯示，讀數(shù)更加直觀,用于實(shí)驗(yàn)室質(zhì)量控制，進(jìn)料檢驗(yàn)以及元器件分選，ATAT...