1、試驗(yàn)?zāi)康牟煌?/span>
冷熱沖擊試驗(yàn)箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)的測(cè)試設(shè)備，用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在經(jīng)ji高溫及極低溫的溫度瞬間急劇變化一定次數(shù)后，得以在短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。通常采用的兩箱或三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱。而快速溫變則是利用外加的環(huán)境應(yīng)力，使?jié)摯嬗陔娮赢a(chǎn)品研發(fā)、設(shè)計(jì)、生產(chǎn)制程中，因不良元器件、制造工藝和其它原因等所造成的早期故障提早發(fā)生而暴露出來(lái)，給予修正和更換。一般采用快速溫變?cè)囼?yàn)箱（亦可稱為ESS環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)箱），可對(duì)產(chǎn)品接觸到的可能導(dǎo)致過(guò)早故障的氣候、熱力或機(jī)械應(yīng)力進(jìn)行篩查試驗(yàn)。
2、測(cè)試階段的不同
冷熱沖擊主要在研發(fā)設(shè)計(jì)階段，試制階段；而快速溫變主要在量產(chǎn)階段。
3、測(cè)試對(duì)象的不同
冷熱沖擊試驗(yàn)箱主要用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，現(xiàn)在使用最多的還是電子產(chǎn)品的元器件或者組件級(jí)（如PCBA，IC）。而快速溫變則主要適用于電子產(chǎn)品的元器件級(jí)，組件級(jí)和設(shè)備級(jí)。
4、試驗(yàn)結(jié)構(gòu)的不同
A、冷熱沖擊試驗(yàn)箱用來(lái)進(jìn)行冷熱沖擊試驗(yàn)，其內(nèi)部構(gòu)造與快速溫變?cè)囼?yàn)箱不同，冷熱沖擊試驗(yàn)箱箱體內(nèi)有兩個(gè)溫區(qū)，高溫區(qū)和低溫區(qū)。冷熱沖擊試驗(yàn)箱分為兩箱式和三箱式，兩箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱主要采用上下吊索（或螺紋軸承）移動(dòng)的方式，在高溫區(qū)和低溫區(qū)來(lái)回移動(dòng)，形成冷熱沖擊的效果；三箱式的冷熱沖擊試驗(yàn)箱則采用的是三箱體的設(shè)計(jì)，分為高溫區(qū)、低溫區(qū)和測(cè)試區(qū)，試驗(yàn)時(shí)將試驗(yàn)物品放置于測(cè)試區(qū)，通過(guò)高溫區(qū)和低溫區(qū)的溫度氣流來(lái)對(duì)測(cè)試區(qū)的試驗(yàn)物品進(jìn)行交替沖擊，形成冷熱沖擊效果。B、快速溫變?cè)囼?yàn)箱與冷熱沖擊試驗(yàn)箱不同，它內(nèi)部只有一個(gè)箱體，只能在某一時(shí)間內(nèi)存在高溫或低溫，溫度的變化都需要升溫、降溫來(lái)實(shí)現(xiàn)，因?yàn)闇囟壬仙蛳陆档乃俾瘦^快，所以也叫做快速溫變?cè)囼?yàn)箱，在溫變的速率上來(lái)說(shuō)，達(dá)不到冷熱沖擊試驗(yàn)箱的效果。
5、溫度變化速率要求不同
冷熱沖擊試驗(yàn)的溫度變化是在5min內(nèi)完成溫到溫和溫到溫沖擊的轉(zhuǎn)換，是在瞬間轉(zhuǎn)換溫度，轉(zhuǎn)換速率是非常之快，所以通常叫溫度沖擊試驗(yàn)箱，也有標(biāo)準(zhǔn)要求在產(chǎn)品表面量測(cè)，溫度恢復(fù)時(shí)間在15min以內(nèi)。而且溫度沖擊是在非線性的情況下完成的。溫度沖擊原理是需要高溫測(cè)試時(shí)高溫儲(chǔ)藏箱的溫度通過(guò)控制自動(dòng)輸送到測(cè)試箱以達(dá)到高溫沖擊的效果，低溫沖擊等同。主要試驗(yàn)?zāi)康氖菧囟葲_擊。快速溫度變化是在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)完成降溫和升溫的，分非線性和線性。例如一臺(tái)溫度范圍-40℃到80℃的設(shè)備，在線性降溫的情況下從溫80℃到-40℃以每分鐘5℃的情況降溫需要24min達(dá)到-40℃，時(shí)間就比冷熱沖擊試驗(yàn)箱的時(shí)間就慢，比一般高低溫試驗(yàn)箱就快很多，因?yàn)闃?biāo)準(zhǔn)的高低溫試驗(yàn)箱是非線性每分鐘1度。當(dāng)然每分鐘10℃~30℃的此設(shè)備也可以在很短的時(shí)間內(nèi)完成升溫和降溫，且溫變速率可控。試驗(yàn)?zāi)康氖强焖俚厣禍兀砸灿薪锌焖贉刈冊(cè)囼?yàn)箱。
6、樣品失效模式的不同
冷熱沖擊是由于材料蠕變及疲勞損傷引起的失效，也稱脆性失效；
