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光學顯微鏡在地質(zhì)分析中的應用
閱讀：672 發(fā)布時間：2023-4-20
光學顯微鏡在地質(zhì)分析已成為常規(guī)研究技術之一，其優(yōu)勢首先在于光學檢測的無損性，對樣品的分析提供安全保障；其次是大距離景深，可以更清晰的觀測微區(qū)形貌；第三是微區(qū)形貌的3D建模和測量功能，可對微區(qū)物理結構特征進行量化表征。
偏光顯微鏡的作用及基礎認識
1、單偏光下的晶體特性
礦物突起
礦物糙面
礦物形態(tài)
解理
礦物顏色
晶體的多色性與吸收性
2、正交偏光下的晶體特性
礦物雙晶的觀察
礦片消光類型及消光角的測定
干涉色
礦物延性符號的測定
3、錐光鏡下的晶體特性
確定一軸晶還是二軸晶
測定光性符號
測量光軸角的大小
部分巖石樣品成像效果
云母類相關樣品顯微鏡下成像效果
偏光顯微鏡也有許多配置可供選擇，比如：顯微鏡熱臺、陰極發(fā)光儀、分光光度計等多樣化應用配置需求，滿足不同類型研究者的需求
