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電子顯微鏡熱分析技術針對的產品
閱讀：1852 發(fā)布時間：2021-9-10
顯微熱在線分析儀適用于顯微鏡下研究、測定被測物質的熱特性，稱為TOA分析（THERMO-OPTICAL ANALYSIS）。
1、透射電子顯微鏡
透射電子顯微鏡的構造原理是有電子光源發(fā)射的電子束帶負電柵極時，由于柵極的負電性更大，大部分電子被擋回去，只有一部分通過陽極加速聚焦到樣品上，利用磁透鏡對透射電子和部分散射電子進行放大成像。其特點：分辨率高，到電子透射能力差，樣品切片要非常薄，切片制備繁瑣，不能反映樣品的凸凹結構，因此，看不到樣品清晰的立體結構。
2、掃描式電子顯微鏡
掃描式電子顯微鏡的構造原理同透射電子顯微鏡，與透射電子顯微鏡不同之處是加了一對偏向磁圈，可掃描一點為一線。掃描式電子顯微鏡用掃描電子束照射到樣品上產生的二次電子、反射電子、吸收電子以及透射電子等作為信息并經(jīng)電子線路放大，而后控制陰極射線管的輝度來顯示成像，它主要研究的時二次電子，測定物質的表面結構。其特點是：圖像景深長、視野大、分辨率高、富有立體感和真實感；對樣品的厚度無苛刻要求；試樣的制備方法簡便，在樣品的表面蒸鍍或濺射一層金屬薄膜即可觀察其表面形貌
3、環(huán)境掃描式電子顯微鏡
環(huán)境掃描式電子顯微鏡是一種壓力可調的掃描式電子顯微鏡1.0～2.0 Torr的壓力范圍環(huán)境下可直接觀察含水、含油及干燥樣品的結構，不會破壞樣品的結構，但傳統(tǒng)掃描式電子顯微鏡是在高真空下觀察樣品，含水樣品必須通過固定、脫水、干燥。
4、聚冷臺掃描式電子顯微鏡
聚冷臺掃描式電子顯微鏡裝有冷臺，可在低溫下測定樣品。
1、透射電子顯微鏡
透射電子顯微鏡的構造原理是有電子光源發(fā)射的電子束帶負電柵極時，由于柵極的負電性更大，大部分電子被擋回去，只有一部分通過陽極加速聚焦到樣品上，利用磁透鏡對透射電子和部分散射電子進行放大成像。其特點：分辨率高，到電子透射能力差，樣品切片要非常薄，切片制備繁瑣，不能反映樣品的凸凹結構，因此，看不到樣品清晰的立體結構。
2、掃描式電子顯微鏡
掃描式電子顯微鏡的構造原理同透射電子顯微鏡，與透射電子顯微鏡不同之處是加了一對偏向磁圈，可掃描一點為一線。掃描式電子顯微鏡用掃描電子束照射到樣品上產生的二次電子、反射電子、吸收電子以及透射電子等作為信息并經(jīng)電子線路放大，而后控制陰極射線管的輝度來顯示成像，它主要研究的時二次電子，測定物質的表面結構。其特點是：圖像景深長、視野大、分辨率高、富有立體感和真實感；對樣品的厚度無苛刻要求；試樣的制備方法簡便，在樣品的表面蒸鍍或濺射一層金屬薄膜即可觀察其表面形貌
3、環(huán)境掃描式電子顯微鏡
環(huán)境掃描式電子顯微鏡是一種壓力可調的掃描式電子顯微鏡1.0～2.0 Torr的壓力范圍環(huán)境下可直接觀察含水、含油及干燥樣品的結構，不會破壞樣品的結構，但傳統(tǒng)掃描式電子顯微鏡是在高真空下觀察樣品，含水樣品必須通過固定、脫水、干燥。
4、聚冷臺掃描式電子顯微鏡
聚冷臺掃描式電子顯微鏡裝有冷臺，可在低溫下測定樣品。