優(yōu)良光電探測器量子效率與參數(shù)分析系統(tǒng) 參考價：面議
APD-QE 采用了光束空間強度技術，利用 ASTM 標準制定的「Irradiance Mode」測試方式，與各種優(yōu)良探尖臺形成完整的微米級光感測器全光譜效率測...
光譜響應測試與光電探測器特性分析 參考價：面議
傳統(tǒng)的量子效率系統(tǒng)在新型光電探測器面臨許多測試方法挑戰(zhàn)。光焱科技針對新世代的光電探測器 (PD) 提供了完整解決方案~命名為 PD-QE光譜響應測試與光電傳感器...
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