| Model | QTESTSTATION1000AD |
| 光源： | 150w(standard) |
| 波長(zhǎng)范圍： | 200-1100 nm or more |
| 分辨率： | 1nm,5nm,10nm,as per order |
| 重復(fù)性： | <±0.2%@main wave range |
| 精度： | <±1%@main wave range |
| 光柵： | Double |
| 測(cè)試方法： | Chopped AC mode with Lockin Amplifier |
| 光斑尺寸： | Adjustable,0.5x0.5mm Min |
| 測(cè)量參數(shù)： | QE,Jsc@AM0,AM1.5G,AM2.0 |
| 計(jì)算機(jī)： | IPC pre-installed |
| 軟件： | Pharos-QE5.6 |
| 工作溫度: | 20℃ |
| 輸入電源： | 110-240VAC/5A |
| 外形尺寸： | 39x20×14"（WxDxH） |
| 注：欲了解更多的類型，請(qǐng)聯(lián)系銷售工程師 | |
量子效率測(cè)試儀測(cè)試方法與步驟：
（1）將待測(cè)CCD芯片和標(biāo)準(zhǔn)探測(cè)器，以及它們各自的驅(qū)動(dòng)電路放置在暗室中，并調(diào)節(jié)測(cè)量系統(tǒng)各部分儀器的參數(shù)。打開光源的開關(guān)，使電流保證在8.4到8.6安，打開單色儀開關(guān)，打開皮安表開關(guān)和移動(dòng)位移臺(tái)的開關(guān)。
?。?）通過上位機(jī)程序控制待測(cè)CCD芯片電子快門，調(diào)整CCD芯片的積分時(shí)間來控制CCD芯片的曝光時(shí)間和曝光量。（一般調(diào)好不用管）。
（3）調(diào)節(jié)移動(dòng)位移臺(tái)，將標(biāo)準(zhǔn)件調(diào)到和激光光斑重合處（目前大約41500）。
?。?）記錄皮安表的數(shù)值，查表，找出對(duì)應(yīng)波長(zhǎng)的數(shù)值，用皮安表的數(shù)值除以查表得出的值，得出功率值。（正好皮安對(duì)皮瓦）
?。?）蓋住CCD相機(jī)的鏡頭，在CCD上位軟件上，連接設(shè)備，連續(xù)采圖，設(shè)置參數(shù)中輸入對(duì)應(yīng)波長(zhǎng)，功率值后。再單擊量子效率，完成暗圖像的采集。
?。?）調(diào)節(jié)移動(dòng)位移臺(tái)，將CCD工業(yè)相機(jī)調(diào)到激光光斑重合處，（目前大約是回到原點(diǎn)）。
?。?）揭開CCD的鏡頭，讓激光光斑打到CCD上，在設(shè)置參數(shù)中輸入對(duì)應(yīng)波長(zhǎng)，功率值后，亮圖上打上對(duì)勾。再單擊量子效率，完成亮圖像的采集。
（8）記錄量子效率測(cè)試儀的量子效率值。
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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