X射線測厚儀EDX8000B---金屬薄膜鍍層厚度和成分分析
EDX8000B鍍層測厚儀應用于金屬電鍍鍍層分析領(lǐng)域
技術(shù)指標
多鍍層分析，1～5層；
測試精度：0.001 μm；
元素分析范圍從鋁(Al)到鈾(U)；
測量時間：10~30秒；
SDD探測器，能量分辨率為125±5eV；
探測器Be窗0.5mil（12.7μm）；
微焦X射線管50kV/1mA，銠靶；
8個準直器及多個濾光片自動切換；
高清CCD攝像頭（500萬像素），準確監(jiān)控位置；
多變量非線性去卷積曲線擬合；
高性能FP無標樣分析軟件；
測厚儀，專業(yè)表面處理檢測解決方案：EDX8000BX射線測厚儀，專用于檢測各種異形件，特別是五金類模具、衛(wèi)浴產(chǎn)品、線路板以及高精密電子元器件表面處理的成分和厚度分析。
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