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更新時(shí)間：2022-03-30 14:53:07瀏覽次數(shù)：2338評(píng)價(jià)
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| 價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類 | 探測器及其他設(shè)備 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
X射線衍射儀X-Ray分析力提高一體化高分辨率
高分辨X射線衍射儀其可靠性的增強(qiáng)及性能的改進(jìn)提高了分析能力，提供一體化解決方案來滿足不同需求和應(yīng)用：
• 半導(dǎo)體和單晶晶圓：倒易空間探索、搖擺曲線分析
• 多晶固體和薄膜：織構(gòu)分析、反射測量
• 超薄薄膜、納米材料和非晶層：掠入射物相鑒定、面內(nèi)衍射
• 非常溫條件下的測量：隨溫度和時(shí)間變化的峰高
推動(dòng)薄膜領(lǐng)域的材料研究材料研究的進(jìn)步給我們的生活方式帶來了巨大變化。例如，材料技術(shù)推動(dòng)了通信技術(shù)的發(fā)展，而這些技術(shù)如今早已成為我們?nèi)粘Ｉ钪忻懿豢煞值囊徊糠?。薄膜結(jié)構(gòu)是電子、光學(xué)、機(jī)械和能源應(yīng)用的許多高級(jí)功能設(shè)備的核心所在。多層材料現(xiàn)在，生長技術(shù)允許多層結(jié)構(gòu)沉積，其中各層的厚度可以從微米級(jí)別低至單分子層級(jí)別。高級(jí)薄膜設(shè)備所涉及的典型材料包括半導(dǎo)體、金屬合金、介電材料和化合物。在各種薄膜結(jié)構(gòu)中，通常需要進(jìn)行多次測量來分析各種屬性，比如層厚、晶相和合金成分、應(yīng)力、結(jié)晶度、密度和界面形態(tài)等。研究和監(jiān)測結(jié)構(gòu)特性為了設(shè)計(jì)、理解和改進(jìn)新器件，在多步制程的每個(gè)階段都必須測量關(guān)鍵的結(jié)構(gòu)特性。在薄膜器件的研究、開發(fā)和生產(chǎn)中，對(duì)薄膜性能的監(jiān)測是不可少的一步。
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