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散射式近場光學(xué)顯微鏡的特點及實際應(yīng)用
閱讀：1169 發(fā)布時間：2021-4-25
散射式近場光學(xué)顯微鏡建立在基于具有*地位的納米光學(xué)表征工具原子力顯微鏡AFM的基礎(chǔ)之上。s-SNOM設(shè)計具有非常優(yōu)秀的性能，高度集成，全面自動化，使用靈活，為研究生產(chǎn)力和易用性設(shè)定了新的標(biāo)準(zhǔn)。
特別適用于硬質(zhì)材料，特別是具有高反射率、高介電常數(shù)或強光學(xué)共振的材料，可以完成對所有物質(zhì)納米尺度的化學(xué)性質(zhì)分析及探索。
散射式近場光學(xué)顯微鏡的分辨率僅由AFM針尖的曲率半徑?jīng)Q定，與入射光源的波長無關(guān)，能夠在可見、紅外和太赫茲光譜范圍內(nèi)，提供佳10nm空間分辨率的光譜和近場光學(xué)圖像。
產(chǎn)品特點：
10nm空間分辨率近場成像和光譜；
特殊的快速成像和采譜技術(shù)，10倍于傳統(tǒng)的空間光譜成像；
特殊的背景壓制技術(shù)和高效光學(xué)信號收集技術(shù)，確保在10nm空間分辨率下仍然保持*的信噪比；
預(yù)先校準(zhǔn)光路，操作極其簡便；
模塊化設(shè)計，可拓展性強；
散射式近場光學(xué)顯微鏡重要應(yīng)用領(lǐng)域：
研究樣品化學(xué)組成；
低維體系表面激發(fā)（石墨烯/六方氮化硼等）；
極性晶體；
半導(dǎo)體納米器件：納米天線/納米線/納米顆粒；
超材料；
高分子/蛋白質(zhì)/生物材料。