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掃描電遷移率粒徑譜儀的工作原理介紹
Palas SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀是使用氣溶膠靜電計(jì)作為濃度測(cè)量裝置的納米顆粒測(cè)量系統(tǒng)，可測(cè)量4nm到1200nm的氣溶膠粒徑分布，不僅能夠提供準(zhǔn)確可靠的粒徑分析和計(jì)數(shù)功能，而且高達(dá)256原始通道能夠?qū)崿F(xiàn)高粒徑分辨率。SMPS全系列多組合滿足不同濃度、粒徑分布范圍氣溶膠分析需求；桌面式簡(jiǎn)便操作，易上手；連接方便，可靈活搭載各種預(yù)處理裝置（如稀釋裝置等）；開(kāi)放式數(shù)據(jù)文件，讀取和分析便捷；可實(shí)現(xiàn)自檢測(cè)和校準(zhǔn)；*兼容性和靈活性，可以跟市場(chǎng)主流計(jì)數(shù)器兼容等。
工作原理：
氣溶膠在進(jìn)入分類器（DEMC列）之前經(jīng)過(guò)調(diào)節(jié)?？蛇x的干燥器（例如硅膠，Nafion）可以去除顆粒中的水分。使用雙極中和劑（例如Kr 85）來(lái)確保測(cè)定的氣溶膠電荷分布。為了去除大于分類器尺寸范圍的顆粒，需要在DEMC的入口處使用撞擊器。
然后，氣溶膠通過(guò)入口導(dǎo)入DEMC色譜柱。沿著外部電極的氣溶膠流在此與護(hù)套氣流仔細(xì)合并。重要的是在此處避免任何湍流，以確保層流。電極的表面在光滑度和公差方面必須具有較高的質(zhì)量。
鞘空氣是干燥、無(wú)顆粒的載氣（通常是空氣），其體積大于連續(xù)在閉環(huán)中循環(huán)的氣溶膠體積。鞘空氣與樣品空氣的體積比決定傳遞函數(shù)，因此決定DEMC的分離能力。通過(guò)施加電壓，在內(nèi)外電極之間會(huì)產(chǎn)生一個(gè)徑向?qū)ΨQ的電場(chǎng)。內(nèi)電極在末端帶有小縫隙，帶正電。通過(guò)平衡每個(gè)粒子上的電場(chǎng)力及其在電場(chǎng)中的空氣動(dòng)力學(xué)阻力，帶負(fù)電的粒子被轉(zhuǎn)移到正電極。根據(jù)它們的電遷移率，一些顆粒會(huì)穿過(guò)狹縫并離開(kāi)DEMC。
在工作中，電壓和電場(chǎng)因此而連續(xù)變化。結(jié)果，具有變化遷移率的顆粒會(huì)離開(kāi)DEMC，并且由納米顆粒計(jì)數(shù)器 – 在此顯示為氣溶膠靜電計(jì)（例如Palas®Charme®）連續(xù)測(cè)量-。
為了組合數(shù)據(jù)（電壓、電荷數(shù)、電荷分布等）并獲得粒度分布，必須進(jìn)行逆變換。為此，使用的算法是由IfT（德國(guó)萊比錫）的Wiedensohler教授開(kāi)發(fā)的算法。