您好, 歡迎來(lái)到化工儀器網(wǎng)
相控陣探傷儀的知識(shí)點(diǎn)詳解
閱讀：2057 發(fā)布時(shí)間：2021-8-25
相控陣探傷儀通過(guò)軟件可以單獨(dú)控制相控陣探頭中每個(gè)晶片的激發(fā)時(shí)間，從而控制產(chǎn)生波束的角度、聚焦位置和焦點(diǎn)尺寸。這種使用扇形掃查方式能提供一定角度范圍的掃查圖像，因此不必像傳統(tǒng)超聲那樣需要頻繁更換不同K值的探頭，就可以輕松覆蓋檢測(cè)區(qū)域。作為無(wú)損檢測(cè)利器，相控陣探傷儀能夠快速、便捷、無(wú)損傷、準(zhǔn)確地進(jìn)行工件內(nèi)部多種缺陷(裂紋、疏松、氣孔、夾雜等)的檢測(cè)、定位、評(píng)估和診斷。既可以用于實(shí)驗(yàn)室,也可以用于工程現(xiàn)場(chǎng)，如今在各個(gè)行業(yè)的應(yīng)用日漸廣泛。
相控陣探傷儀可進(jìn)行快速檢測(cè)，并生成被測(cè)工件內(nèi)部結(jié)構(gòu)的精確、詳細(xì)的橫截面圖像。相控陣技術(shù)使用多個(gè)超聲晶片及電子時(shí)間延遲，創(chuàng)建可以電子方式傳播、掃描、掃查及聚焦的聲波，以進(jìn)行快速檢測(cè)、完整的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)，以及多角度的檢測(cè)。相控陣技術(shù)可提供極為可靠的測(cè)量結(jié)果。
選擇使用相控陣探傷儀時(shí)，操作人員無(wú)需更換探頭或楔塊就能方便地利用一個(gè)探頭達(dá)到多個(gè)角度和聚焦深度。扇形掃描和精確的波束控制顯著地提高了探測(cè)缺