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原位加熱加電樣TKD品臺的概述
原位加熱加電樣TKD品臺可以讓用戶在掃描電子顯微鏡 (SEM) 或聚焦離子束 (FIB) 內(nèi)進行原位加熱和/或電學實驗。 特別是對于 TEM 用戶，該平臺允許用戶在 SEM 內(nèi)進行相對快速的初步原位樣品表征，以便為進一步的TEM 實驗開發(fā)工作流程，從而節(jié)省寶貴的 TEM 時間，提高高效的解決方案。
技術(shù)參數(shù)：
1. *電極數(shù)：8電極(可同時加熱和加電)
2. *金屬加熱絲，非陶瓷材料，升溫降溫速度快，即是熱導材料，又是熱敏材料，其電阻與溫度有良好的線性關(guān)系。金屬加熱絲是被SiN包裹，不與樣品發(fā)生反應。
3. *溫度范圍：高溫芯片：室溫到1100℃，超高溫芯片：室溫到 1300℃，熱電一體芯片：室溫到 900℃。
4. *溫度穩(wěn)定性：加熱到 1300℃時，只有 < 0.01℃的溫度變化
5. *加熱控制方式：四電極法閉合回路控制和反饋環(huán)境溫度
6. *最高電場：300kV/cm(室溫-900℃)
7. *最高工作電壓： 150V(室溫-900℃)
8. 最小的檢測電流：pA范圍
9. 溫度精確度：≥95%
10. 溫度均勻度：≥99.5%
原位加熱加電樣TKD品臺工作原理：在掃描電鏡中對樣品加熱在許多材料科學研究中已經(jīng)成了一項的手段，使用掃描電鏡原位加熱臺可以進行動態(tài)地觀察溫度變化過程中的材料微觀變化及失效分析。如今被廣泛應用于金屬材料、液晶檢測、半導體、高分子材料、流體包裹體、生物工程等眾多領(lǐng)域。原位加熱臺能夠使我們動態(tài)地觀察樣品在加熱過程中的相變、再結(jié)晶、晶粒生長與氧化現(xiàn)象。