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四探針方阻儀 參考價(jià)：20000
四探針方阻儀①檢查電源線是否接觸良好；②檢查后面板上的電源開關(guān)是否已經(jīng)打開③檢查保險(xiǎn)絲是否熔斷，如有必要，請(qǐng)更換保險(xiǎn)絲如經(jīng)上述檢查無誤后，測(cè)試儀仍未正常啟動(dòng)，請(qǐng)...
薄膜四探針測(cè)定儀 參考價(jià)：20000
薄膜四探針測(cè)定儀GB/T14141-2009硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層薄層電阻的測(cè)定直排四探針法標(biāo)配:測(cè)試平臺(tái)一套、主機(jī)一套 電源線數(shù)據(jù)線一套。
雙電測(cè)試四探針電阻率測(cè)試儀 參考價(jià)：20000
雙電測(cè)試四探針電阻率測(cè)試儀用于測(cè)試電阻、電導(dǎo)率等電學(xué)參數(shù)的儀器。它的工作原理是利用四個(gè)探針分別接觸被測(cè)物體的四個(gè)點(diǎn)，形成一個(gè)閉合電路，通過測(cè)量電流和電壓的變化來...
金屬膜四探針方阻電阻率檢測(cè)儀 參考價(jià)：20000
金屬膜四探針方阻電阻率檢測(cè)儀生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析半導(dǎo)體材料質(zhì)量的工具；液晶顯示，自動(dòng)測(cè)量和系數(shù)補(bǔ)償，并帶有溫度補(bǔ)償功能，自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程；
高量程體積表面積電阻率測(cè)試儀 參考價(jià)：20000
高量程體積表面積電阻率測(cè)試儀中心為圓柱體,直徑為50mm, 標(biāo)準(zhǔn)中沒有規(guī)定高度，但一般是40mm圓柱體外為一圓環(huán),圓環(huán)內(nèi)徑為60mm,外徑為80mm, 標(biāo)準(zhǔn)中沒...
雙電四探針電阻測(cè)試儀 參考價(jià)：20000
雙電四探針電阻測(cè)試儀符合單晶硅物理測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測(cè)量，對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測(cè)分析，自動(dòng)消除樣品...
四探針低阻率檢測(cè)儀 參考價(jià)：20000
四探針低阻率檢測(cè)儀可以測(cè)試到1uΩ方阻值，采用芯片控制，恒流輸出，液晶顯示，自動(dòng)數(shù)據(jù)測(cè)量，系數(shù)補(bǔ)償，參考美國(guó)A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換，進(jìn)...
四探針電阻測(cè)定儀 參考價(jià)：面議
四探針電阻測(cè)定儀硅片電阻率測(cè)量的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）.GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》.GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電...
方阻計(jì) 四探針測(cè)試儀 參考價(jià)：20000
方阻計(jì) 四探針測(cè)試儀適用范圍：四探針法測(cè)試的 導(dǎo)電性新材料、鋁箔、銅箔等具有類似性質(zhì)要求測(cè)量的材料.
四探針低電阻率測(cè)試儀 參考價(jià)：21000
四探針低電阻率測(cè)試儀比較-電流計(jì)——計(jì)算電阻或電導(dǎo)的*百分比誤差是指Rs,電流計(jì)偏移或放大器讀數(shù)的百分比誤差總和,同時(shí)假設(shè)電流靈敏度與偏移無關(guān)。對(duì)于新式電流計(jì)(...
薄膜四探針電阻率測(cè)試儀 參考價(jià)：25000
薄膜四探針電阻率測(cè)試儀儀器由主機(jī)、測(cè)試臺(tái)、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等部分組成，測(cè)量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示，亦可由計(jì)算機(jī)控制測(cè)試采集測(cè)試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析，然后以表...
雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀 參考價(jià)：23000
雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀數(shù)控恒流源 (1)量程：0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA，1A (2)誤差：±...
金屬電阻率測(cè)試儀 參考價(jià)：20000
金屬電阻率測(cè)試儀大屏幕，大字體，可同時(shí)顯示電阻率、電導(dǎo)率、電阻等測(cè)量值及溫度，測(cè)試電流、溫度補(bǔ)償系數(shù)等輔助參數(shù)，非常直觀。每次測(cè)量，具有自動(dòng)選定恒流電流，自動(dòng)電...
導(dǎo)電材料電阻測(cè)試儀BEST-300C 參考價(jià)：20000
導(dǎo)電材料電阻測(cè)試儀BEST-300C適用范圍四端測(cè)試法是目前較*之測(cè)試方法，主要針對(duì)高精度要求之產(chǎn)品測(cè)試；本儀器廣泛用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分...
雙極板材料四探針測(cè)試儀 參考價(jià)：155000
雙極板材料四探針測(cè)試儀用于雙極板材料本體電阻率和雙極板與炭紙之間的接觸電阻的測(cè)量和分析.
四探針電阻率方塊電阻測(cè)試儀 參考價(jià)：23000
四探針電阻率方塊電阻測(cè)試儀測(cè)試探頭： 探針間距選購(gòu)：1mm；2mm；3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購(gòu)：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針
自動(dòng)四探針電阻率測(cè)試儀 參考價(jià)：19300
自動(dòng)四探針電阻率測(cè)試儀注意事項(xiàng)：1、儀器不使用時(shí)請(qǐng)切斷電源，連接線無需經(jīng)常拔下，避免灰塵進(jìn)入航空插引起短接等現(xiàn)象，2、探針筆測(cè)試結(jié)束，套好護(hù)套，避免人為斷針3、...
低阻雙電四探針試驗(yàn)儀 參考價(jià)：23000
低阻雙電四探針試驗(yàn)儀四探針法測(cè)試的 導(dǎo)電性新材料、鋁箔、銅箔等具有類似性質(zhì)要求測(cè)量的材料.
四探針電阻率檢測(cè)儀 參考價(jià)：21000
四探針電阻率檢測(cè)儀雙電組合測(cè)試方法：利用電流探針、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測(cè)量，對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測(cè)分析，解決樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素...
四探針方阻電阻測(cè)試儀 參考價(jià)：25000
四探針方阻電阻測(cè)試儀參照標(biāo)準(zhǔn)：1.硅片電阻率測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）.2.GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》.3.GB/T 1551-...
材料超低電阻及電阻率測(cè)試儀 參考價(jià)：25000
材料超低電阻及電阻率測(cè)試儀主要由主機(jī)和測(cè)試治具兩部分組成，結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)符合人體工學(xué)要求，測(cè)量電阻靈敏度達(dá)0.01μΩ,電阻率靈敏度高達(dá)0.0001μΩ·m...
雙電測(cè)電四探針電阻率/方阻測(cè)試儀 參考價(jià)：30000
雙電測(cè)電四探針電阻率/方阻測(cè)試儀自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運(yùn)輸安全、使用...
四探針粉末電導(dǎo)率測(cè)試儀 參考價(jià)：38000
四探針粉末電導(dǎo)率測(cè)試儀滿足GB/T 1551、GB/T1552-1995，ASTM F84美國(guó)A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。2）四探針法粉末測(cè)試平臺(tái)依據(jù)GBT 3083...
四探針導(dǎo)電電阻測(cè)試儀 參考價(jià)：22000
四探針導(dǎo)電電阻測(cè)試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測(cè)量。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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