新品上市
蔡司雙束電鏡
Crossbeam 550 Samplefab
蔡司推出全新雙束電鏡 Crossbeam 550 Samplefab
作為一款專為半導(dǎo)體行業(yè) TEM 樣品制備開發(fā)的
聚焦離子束掃描電子顯微鏡(FIB-SEM)
Crossbeam 550 Samplefab 提供優(yōu)異的靈活性
自動化功能和用戶友好設(shè)計(jì)
幫助半導(dǎo)體行業(yè)的樣品制備更加簡便高效
全新界面
用戶友好的軟件操作體驗(yàn)
配備直觀的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)圖形用戶界面
軟件功能模塊高度整合，輕松上手
無論是專家還是新手，都能擁有友好的操作體驗(yàn)
全新體驗(yàn)
全自動TEM樣品制備流程
蔡司雙束電鏡 Crossbeam 550 Samplefab
提供了全自動解決方案
實(shí)現(xiàn)無人值守的多點(diǎn)位TEM薄片制備
旨在優(yōu)化工作流程，一位操作員即可控制多臺設(shè)備
提高生產(chǎn)力并確保樣品質(zhì)量
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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