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單粒細(xì)顆粒破碎力檢測(cè)技術(shù)
閱讀：1349 發(fā)布時(shí)間：2021-7-7單粒細(xì)顆粒破碎力檢測(cè)技術(shù)
NS-A系列細(xì)顆粒破碎力測(cè)量?jī)x是一種通過(guò)壓頭對(duì)細(xì)顆粒和顆粒加壓，可以直接測(cè)量破碎時(shí)非常微弱的力的設(shè)備。可測(cè)量的負(fù)載為 10nN。通過(guò)更換檢測(cè)傳感器，可以測(cè)量高達(dá) 9 位至 10N 的各種微小力。在顆粒硬度（強(qiáng)度）和顆粒硬度（強(qiáng)度）的測(cè)量中，我們實(shí)現(xiàn)了易用性和測(cè)量精度。
- 可以測(cè)量用戶(hù)的任何顆粒的破碎力（強(qiáng)度）。
-通過(guò)更換傳感器，可以測(cè)量從 10nN 到 10N 的寬范圍。
? 可測(cè)量最大 3 μm 的顆粒。
- 溫控臺(tái)（可選）可控制臺(tái)溫高達(dá)150°C。
-高性能隔振臺(tái)（選件）可實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量，并*抑制測(cè)量噪音。
適用于以下評(píng)價(jià)
?顆粒粉碎特性的測(cè)量
?調(diào)色劑溫度依賴(lài)性顆粒強(qiáng)度變化的測(cè)量
?原材料粉末的質(zhì)量控制?原材料選擇評(píng)估
?電池材料強(qiáng)度測(cè)量
?顆粒涂膜評(píng)估
? 一種墨粉顆粒強(qiáng)度的測(cè)量
? 薄膜強(qiáng)度的測(cè)定
NS-A系列標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格 | ||
待測(cè)樣品 | 3 微米至 1 毫米 | |
可測(cè)量負(fù)載范圍 | 10nN ~ 10N 最小分辨率 2nN | |
測(cè)量壓縮速度 | 100 納米/秒至 50 微米/秒 | |
圖像捕捉 | 3CCD攝錄一體機(jī) | |
溫控臺(tái) | 常溫～150℃ | |
高性能隔振臺(tái) | 垂直 0.5Hz（可選） | |
尺寸/重量 | 身體 | 450W x 500H x 450D (20kg) |
控制器 | 320W x 250H x 350D (10kg) | |
電源供應(yīng) | AC100V 3A | |