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首頁>>深圳市達瑞博電子有限公司>>產(chǎn)品展示>>KLA-Tencor

  • 晶圓檢測儀 參考價:面議

    THERMA-WAVE TP 630 晶圓檢測儀是一種先進的晶圓測試和計量設(shè)備,廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲和光伏產(chǎn)業(yè)。該設(shè)備具備多種尖duan技術(shù),能夠提供高精...
    型號: THERMA-WA... 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商所在地:深圳市 對比
    THERMA-WAVE TP 630晶圓測試和計量紅外激光掃描光學(xué)器件雙色高溫計紅外成像技術(shù)和分析技術(shù)
    2025/4/29 9:50:57900
  • 光學(xué)計量儀 參考價:面議

    KLA-Tencor Spectra-Shape 8660 光學(xué)計量儀是一種先進的半導(dǎo)體晶圓測試和計量設(shè)備,主要用于精確測量半導(dǎo)體晶圓的特征尺寸和形狀。該系統(tǒng)采...
    型號: Spectra-S... 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商所在地:深圳市 對比
    半導(dǎo)體晶圓測試和計量CD測量和形狀測量自動非接觸式2D(高度)測量非接觸式計量工具缺陷審查
    2025/4/29 9:48:41506
  • 晶圓檢測儀 參考價:面議

    KLA-Tencor Puma 9100 晶圓檢測儀是一款先進的半導(dǎo)體晶圓測試和計量設(shè)備,廣泛應(yīng)用于生產(chǎn)及研發(fā)領(lǐng)域。該設(shè)備具有高精度和可重復(fù)性的特點,能夠提供精...
    型號: Puma 9100 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商所在地:深圳市 對比
    半導(dǎo)體晶圓測試和計量設(shè)備自動化樣品處理能力微米級測量暗場缺陷檢測高精度和可重復(fù)性
    2025/4/29 9:46:58666
  • 晶圓檢測儀 參考價:面議

    KLA-Tencor Puma 9000 晶圓檢測儀是一款優(yōu)良的晶圓檢測和計量設(shè)備,廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造業(yè)。該系統(tǒng)利用KLA-Tencor創(chuàng)新的Streak&t...
    型號: Puma 9000 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商所在地:深圳市 對比
    晶圓檢測和計量Streak™暗視野成像技術(shù)高分辨率成像光學(xué)掃描高速成像技術(shù)
    2025/4/29 9:45:21889
  • 晶圓檢測儀 參考價:面議

    KLA-Tencor AIT XUV 晶圓檢測儀是一款優(yōu)良的晶圓測試和計量設(shè)備,主要用于半導(dǎo)體行業(yè)的高精度檢測。該系統(tǒng)采用超紫外(UV)模式匹配技術(shù)和最新一代的...
    型號: AIT XUV 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商所在地:深圳市 對比
    晶圓測試和計量超紫外(UV)模式1/10000毫米大小激光掃描雙暗場光學(xué)檢查
    2025/4/29 9:43:44641
  • 晶圓檢測儀 參考價:面議

    KLA-Tencor AIT XP 晶圓檢測儀是一款功能強大且高效的晶圓測試和計量設(shè)備,通過其先進的檢測技術(shù)、自動化功能和模塊化設(shè)計,能夠顯著提升半導(dǎo)體制造過程...
    型號: AIT XP 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商所在地:深圳市 對比
    圖案化晶圓晶圓測試和計量暗場顯微鏡技術(shù)缺陷檢測掩模
    2025/4/29 9:41:37713
  • 晶圓檢測儀 參考價:面議

    KLA-Tencor AIT II 晶圓檢測儀是一種先進的晶圓測試和計量系統(tǒng),專為半導(dǎo)體行業(yè)設(shè)計。該系統(tǒng)具有多種功能和特點,使其在晶圓缺陷檢測和過程控制方面表現(xiàn)...
    型號: AIT II 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商所在地:深圳市 對比
    晶圓測試和計量200mm、300mm甚至450mm雙暗場檢查工具SECS/GEM通信接口缺陷檢查
    2025/4/29 9:39:48752
  • 晶圓檢測儀 參考價:面議

    KLA-Tencor AIT I 晶圓檢測儀是一種用于檢測圖案化晶圓表面缺陷的系統(tǒng)。該系統(tǒng)配置為處理6英寸(150毫米)和8英寸(200毫米)的晶圓,并具備自動...
    型號: AIT I 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商所在地:深圳市 對比
    圖案化晶圓表面缺陷6英寸(150毫米)8英寸(200毫米)自動對焦雙暗場檢查
    2025/4/29 9:37:45636
  • 晶圓檢測儀 參考價:面議

    KLA-Tencor 2351 晶圓檢測儀是一種先進的晶圓和掩模檢測系統(tǒng),廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造行業(yè)。該系統(tǒng)具備多種功能,包括高分辨率成像、自動化分析以及專門的缺...
    型號: 2351 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商所在地:深圳市 對比
    晶圓檢測儀KLA-Tencor掩模檢測系統(tǒng)缺陷檢測200mm晶圓尺寸
    2025/4/29 9:35:35770
  • 晶圓檢測儀 參考價:面議

    KLA-Tencor 2135 晶圓檢測儀是一種高duan的掩模和晶圓檢測系統(tǒng),具有多種先進技術(shù)和高靈敏度成像功能。以下是其詳細規(guī)格參數(shù):用途:主要用于圖案化晶...
    型號: 2135 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商所在地:深圳市 對比
    晶圓檢測儀KLA-Tencor晶圓檢測系統(tǒng)缺陷檢測晶片表面映射
    2025/4/29 9:33:11666
  • 顆粒檢測儀 參考價:面議

    KLA-Tencor Surfscan SP2 顆粒檢測儀是一款先進的掩模和晶圓檢測設(shè)備,廣泛應(yīng)用于集成電路(IC)制造過程中的缺陷檢測與分類。該系統(tǒng)采用先進的...
    型號: SP2 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商所在地:深圳市 對比
    顆粒檢測儀晶圓檢測KLA-Tencor缺陷檢測晶圓檢測儀
    2025/4/29 9:30:421168
  • 顆粒檢測儀 參考價:面議

    KLA-Tencor SFS6420 顆粒檢測儀是一種用于晶圓檢測和計量的系統(tǒng),廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造領(lǐng)域。該設(shè)備由KLA-Tencor公司生產(chǎn),具有多種功能和特...
    型號: SFS6420 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商所在地:深圳市 對比
    顆粒檢測儀KLA-Tencor晶圓檢測表面分析計量
    2025/4/29 9:28:43667

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