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技術文章

Fizeau 干涉儀(HO-OFIZ-215)

閱讀:188          發(fā)布時間:2024-11-18

菲佐干涉儀是最靈活的干涉儀,可通過非接觸配置測量平面和球面。它的參考光路和測量光路相同,因此是一種結構緊湊、抗震的系統(tǒng)。Fizeau Interferometer與Fabry-Perot interferometer相似,都由兩個反射面組成。不過,在菲佐干涉儀中,第二個表面通常是全反射的。角度分束器捕捉參考光束和測量光束。

Holmarc 菲佐干涉儀采用開放式垂直配置。它適用于平面和球面的常規(guī)測量。光源采用 DPSS 激光器。垂直方向的光學布局便于放置測試元件。CCD 攝像機捕捉到的條紋由計算機進行分析。該設備既可用于生產(chǎn)過程中的光學質(zhì)量控制,也可用于實驗室的常規(guī)檢測。

           

                                                                                                                      功能


可進行高精度平面度測量

使用靜態(tài)條紋分析軟件

儀器采用直立式結構,便于固定測試樣品

使用高質(zhì)量的像差校正光學元件


                                                                                                                      規(guī)格

樣品尺寸:≤ 100 毫米

參考平面:λ/20 P V 直徑 100 mm 厚度 25 mm

精度:≤ λ / 20 PV

激光源:DPSS 5.0 mW 532 nm

校準:通過 傾斜樣品底座

攝像頭:CCD 1280 x 1024 分辨率

分析:使用 條紋分析軟件

重量:約 25 千克

電源:220 伏 ,50 赫茲


                                                                                                                  包括的組件

532nm (5 mW) DPSS 激光源、

空間濾波器組件

分光鏡

帶支架的準直透鏡

帶支架的參考平面

測試平面支架

帶 CCD 等的變焦鏡頭





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