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電腦膜層測(cè)厚儀JL-LKTC-1/LKTC
閱讀：179 發(fā)布時(shí)間：2025-7-28| 提 供 商 | 山東鴻得實(shí)業(yè)有限公司 | 資料大小 | 2.1KB |
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| 資料類型 | JPG 圖片 | 瀏覽次數(shù) | 179次 |
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產(chǎn)品特點(diǎn)：
1.采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，既可測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度，又可測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度；
2.分體（傳感器與儀器之間通過引線連接）、兩用（F型N型合一）；
3.*的溫度補(bǔ)償算法；
4.具有兩種測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單次測(cè)量方式（SINGLE）；
5.具有統(tǒng)計(jì)功能：平均值（MEAN）、大值（MAX）、小值（MIN）、測(cè)試次數(shù)（NO．）、標(biāo)準(zhǔn)偏差（S．DEV）；
6.具有存儲(chǔ)功能：可存儲(chǔ)500 個(gè)測(cè)量值。
主要功能：
| 測(cè)頭類型 | F | N |
| 工作原理 | 磁感應(yīng) | 電渦流 |
| 測(cè)量范圍 | 0～1250μm | 0～1250μ 其中：銅上鍍鉻(0～40μm) |
| 分辨力 | 0.1μm（0～50μm） 1 m（ 50μm） | |
| 測(cè)量誤差 | 3%H+1μm（H為測(cè)量范圍） | |
| 示值誤差 | ||
| 一點(diǎn)校準(zhǔn)(μm) | ±（3%H1) | ±(3%H+1.5) |
| 二點(diǎn)校準(zhǔn)(μm) | ±[(1～3)%H+1] | ±[(1～3)%H+1.5] |
| 測(cè)試條件 | ||
| 小曲率半徑(mm) | 凸1.5 | 凸3 |
| 小面積的直徑(mm) | Φ7 | Φ5 |
| 基體臨厚度(mm) | 0.5 | 0.3 |
| 工作電壓 | 3*1.5V AAA堿性電池 | |
| 外形尺寸 | 155mm*68mm*27mm | |
| 整機(jī)重量 | 230g | |