薄膜測厚儀是一種用于測量薄膜材料厚度的儀器。這種設(shè)備利用各種原理，如機械接觸式測量、超聲波頻率變化、渦流等，來檢測薄膜的厚度。薄膜測厚儀具有高精度、高穩(wěn)定性、操作簡便等特點，廣泛應(yīng)用于各種薄膜生產(chǎn)、加工、質(zhì)量檢測等領(lǐng)域，為產(chǎn)品的質(zhì)量控制和研發(fā)提供重要的數(shù)據(jù)支持。在使用薄膜測厚儀時，需要根據(jù)具體的薄膜材料和測試要求，選擇合適的測量原理和儀器型號。今天小編就給大家介紹一下薄膜測厚儀的精度與哪些因素有關(guān)

1. 基體金屬磁性：磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響。

2. 基體金屬厚度：每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度，大于這個厚度測量就不受基體厚度的影響。

3. 邊緣效應(yīng)：膜厚儀對試片表面形狀的陡變敏感，因此在靠近試片邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進行測量是不可靠的。

4. 曲率：試件的曲率對測量有影響，這種影響總是隨著曲率半徑的減小明顯地增大。因此不應(yīng)在試件彎曲面上測量。

5. 表面粗糙度：基體金屬和被測覆蓋層的表面粗糙度對測量有影響，粗糙度增大，影響增大。

6. 磁場：周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強磁場會嚴重地干擾磁性法測量厚度的工作。

以上信息僅供參考，建議查閱薄膜測厚儀的使用說明書或咨詢專業(yè)人士獲取更全面和準確的信息。有其他任何疑問歡迎您隨時聯(lián)系小編。