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[供應(yīng)]XTH450-尼康CT掃描工作站 XTH450
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  • XTH450-尼康CT掃描工作站 XTH450
貨物所在地:
上海上海市
產(chǎn)地:
日本
更新時(shí)間:
2025-02-15 21:00:08
有效期:
2025年2月15日 -- 2025年8月15日
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

XT H 450系統(tǒng)可為測(cè)量高密度部件提供微米級(jí)無(wú)散射的CT數(shù)據(jù)。這臺(tái)功能強(qiáng)大的設(shè)備的核心部件是450kV微焦點(diǎn)光源,可提供功率高達(dá)450W的超高分辨率和超高精度,同時(shí)還能提供足夠強(qiáng)的X射線功率穿透致密標(biāo)本。

詳細(xì)介紹

渦輪葉片以及大型鑄件的CT掃描工作站

 XT H 450

世界450kV*微焦點(diǎn)射線源 
Nikon Metrology提供世界上獨(dú)1無(wú)2的450kV微焦點(diǎn)X射線源。Nikon Metrology的320kV/450kV射線源的焦點(diǎn)尺寸,小到微米級(jí)別,因此可測(cè)量的部件種類(lèi)更廣,且可進(jìn)行分辨率和精度更高的檢查。
XTH450LC,應(yīng)用于渦輪葉片測(cè)定以及眾多中小型鑄件的無(wú)損檢測(cè)領(lǐng)域,并慢慢成為一種新的重要檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)。這個(gè)型號(hào)的機(jī)器核心450kV微焦點(diǎn)射線管源擁有優(yōu)異的解析度以及精度。搭配晶體光柵的高性能線陣探測(cè)器更是讓曲面效應(yīng)以及射線散射現(xiàn)象等得到根本解決,在渦輪葉片以及其他眾多金屬零件的檢測(cè)中得到近乎*的效果。




*的CLDA技術(shù)
Nikon Metrology研發(fā)的CLDA可優(yōu)化采集穿過(guò)部件的X射線,無(wú)需采集不需要的散射X射線。CLDA可避免圖像污染和因圖像污染造成的對(duì)比度衰減,從而實(shí)現(xiàn)出眾的圖像清晰度和對(duì)比度。曲線二極管陣列能使X射線到二極管接收器的路徑長(zhǎng)度保持不變,進(jìn)一步增強(qiáng)圖像質(zhì)量。用戶(hù)可使用較長(zhǎng)的晶體來(lái)增強(qiáng)X射線的靈敏度,進(jìn)而提高信噪比。


質(zhì)量控制、缺陷分析和材料研究

在需要重視內(nèi)部結(jié)構(gòu)的任何情況下,X射線和CT技術(shù)可以用作提供有價(jià)值信息的有效工具。內(nèi)部特性的詳細(xì)拍攝和測(cè)量對(duì)于各個(gè)行業(yè)的質(zhì)量控制、缺陷分析和材料研究而言至關(guān)重要。
▲ 故障檢測(cè)和缺陷分析
▲ 復(fù)雜機(jī)構(gòu)的裝配檢測(cè)
▲ 內(nèi)部組件的尺寸測(cè)量
▲ 部件-CAD對(duì)比
▲ 良好的材料研究
▲ 生物結(jié)構(gòu)的分析
▲ 模型的數(shù)字化存檔



主要特點(diǎn)

• 獨(dú)立的450kV微焦點(diǎn)射線源 
• 大可掃描樣品的尺寸達(dá)到直徑500mm,高度600mm 
• 可走入式的大鉛房以及大型的樣品艙門(mén)讓樣品的放置以及維護(hù)檢測(cè)變得更加方便 
• 五軸樣品操作臺(tái)大載重可達(dá)100kg 
• 高效率的線陣探測(cè)器與面陣平板探測(cè)器可以同時(shí)搭載以滿(mǎn)足不同需求。(選配) 
• 專(zhuān)門(mén)為渦輪葉片定制的質(zhì)量合格判斷應(yīng)用程序。 

引進(jìn)功能

• 將靈活性整合到一個(gè)系統(tǒng)里:X射線快速可視化檢測(cè),CT重構(gòu)精密解析 
• 快速獲取高品質(zhì)圖像 
• 人機(jī)交互式操作桿導(dǎo)航界面使用快速直觀 
• 高清晰度數(shù)字圖像與圖像處理 
• 不需要特別外加防護(hù)的完備安全系統(tǒng) 
• 通用于業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)的后處理應(yīng)用格式


用途

• 渦輪葉片的內(nèi)部構(gòu)造與詳細(xì)分析 
• 渦輪葉片的合格與否自動(dòng)判定 
• 幾十微米級(jí)別要求的金屬零件跟鑄件等的精度檢測(cè) 

 

XT H 450 LC,用于葉片和鑄件的CT檢測(cè), 
帶有高功率450kV微焦點(diǎn)X射線源 

Metris XT H 450 LC建立了渦輪葉片測(cè)量和中小鑄件NDT檢測(cè)的新參考標(biāo)準(zhǔn)。這臺(tái)功能強(qiáng)大的設(shè)備的核心部件是一個(gè)450kV微焦點(diǎn)源,可提供超高分辨率和超高精度。 
彎曲的線性陣列探測(cè)器通過(guò)消除散射現(xiàn)象,優(yōu)化了X射線圖像的采集,散射現(xiàn)象通常會(huì)影響葉片和其它金屬件的二維射線照片。該探測(cè)器是一臺(tái)非常靈活的設(shè)備,可處理小金屬件到大金屬件,例如葉片、鑄件等 

優(yōu)點(diǎn) 可靈活地整合在單個(gè)系統(tǒng)中:X射線可用于快速目視檢測(cè),CT可用于深入分析 
快速數(shù)據(jù)采集和高質(zhì)量圖像 
高分辨率數(shù)字成像和處理 
嵌入式安全裝置可使操作人員安全地操作該系統(tǒng),無(wú)需任何特殊的預(yù)防措施或安全警示標(biāo)志

特性 
*的450kV微焦點(diǎn)源 
測(cè)量體積可達(dá)600mm直徑和600mm高度 
高效線性探測(cè)器,>80%量子檢測(cè)有效率 
五軸*可編程托盤(pán)式操縱器,帶精密滾珠絲桿和線性滑軌 
特別適用于渦輪葉片的自動(dòng)通過(guò)/不通過(guò)檢測(cè)


應(yīng)用 
渦輪葉片內(nèi)部結(jié)構(gòu)的詳細(xì)分析 
葉片的自動(dòng)通過(guò)/不通過(guò)檢測(cè) 
需要微米精度的高密度部件檢測(cè)(例如金屬件、鑄件)


 


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