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技術文章

sense-ware,T-229/4P UV/IR 探測器功能

閱讀:1112          發(fā)布時間:2022-5-18

簡介40多年來,數(shù)字功能測試一直是測試領域的一部分。 早的測試系統(tǒng)采用簡單的靜態(tài)數(shù)字測試功能。然而,隨著這些數(shù)字設備,模塊和系統(tǒng)的性能、復雜性的發(fā)展,數(shù)字測試儀器也在不斷發(fā)展。特別是,器件切換速率相關技術的持續(xù)進步已經(jīng)對測試儀器和系統(tǒng)了相對更高的性能要求,而今天的 半導體測試系統(tǒng)了具有高功耗的數(shù)GHz測試功能。在事-航天應用,數(shù)字功能測試要求不斷的提出一系列*的要求和挑戰(zhàn)。與 設備測試相關的測試要求不同,M-A應用主要側(cè)重于支持模塊和系統(tǒng)級測試。并且是市場上能在同一上支持從2G到5G技術的解決方案。一致性測試對于通信技術至關重要,因為網(wǎng)絡運營商依賴GCF和PTCRB認證方案來認證網(wǎng)絡中的設備。

 

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