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膜厚分析儀根據(jù)測量原理可以分為這幾種類型

閱讀：2057 發(fā)布時間：2022-8-19

　　膜厚分析儀根據(jù)測量原理一般有以下五種類型：

　　1、磁性測厚法：適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測量。導(dǎo)磁材料一般為：鋼\鐵\銀\鎳。此種方法測量精度高

　　2、渦流測厚法：適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測量。此種方法較磁性測厚法精度低

　　3、超聲波測厚法：目前國內(nèi)還沒有用此種方法測量涂鍍層厚度的，個別有這樣的儀器，適用多層涂鍍層厚度的測量或則是以上兩種方法都無法測量的場合。

　　4、電解測厚法：此方法有別于以上三種，不屬于無損檢測，需要破壞涂鍍層。一般精度也不高，測量起來較其他幾種麻煩。

　　膜厚分析儀的性能特點：

　　滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求；

　　小孔準直器可以滿足微小測試點的需求；

　　移動平臺可定位測試點，重復(fù)定位精度小；

　　采用高度定位激光，可自動定位測試高度；

　　定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊；

　　鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點；

　　高分辨率探頭使分析結(jié)果更加；

　　良好的射線屏蔽作用；

　　測試口高度敏感性傳感器保護。

　　膜厚分析儀具有廣泛使用范圍的磁性和非磁性及兩用儀器。能快速、無損傷、精密地進行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實驗室,也可用于工程現(xiàn)場。能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。