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廣州貝拓科學技術有限公司

Zeta電位分析儀的工作原理和測量原理解析

時間:2024-6-9 閱讀:2525
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   Zeta電位分析儀是一種用于測量分散體系中粒子表面電荷的儀器,廣泛應用于膠體化學、生物學、材料科學等領域。
 
  一、工作原理
  Zeta電位分析儀通過測量分散體系中粒子在電場作用下的遷移率來計算Zeta電位。具體工作原理如下:
  電泳遷移率測量:分析儀向分散體系施加一個已知強度的電場。在電場作用下,帶電粒子會向相反電極遷移。
 
  光散射檢測:粒子在電場中的遷移過程會產生散射光。分析儀通過檢測散射光的變化來監(jiān)測粒子的遷移情況。
 
  數(shù)據(jù)處理與計算:分析儀收集并處理散射光數(shù)據(jù),根據(jù)Henry方程或Smoluchowski方程計算出粒子的電泳遷移率。然后,結合溶液的粘度、介電常數(shù)等參數(shù),計算出Zeta電位。
 Zeta電位分析儀
  二、測量原理
  Zeta電位的測量原理基于電泳現(xiàn)象和Smoluchowski方程。當帶電粒子在電場中遷移時,其受到的電場力與黏滯阻力達到平衡,此時粒子的遷移速度稱為電泳遷移率。
 
  通過測量電泳遷移率,并結合已知介質的物理參數(shù),可以計算出Zeta電位。Zeta電位反映了粒子表面的電荷狀況,對于研究分散體系的穩(wěn)定性、顆粒間的相互作用等方面具有重要意義。
 
  Zeta電位分析儀通過測量分散體系中粒子在電場作用下的遷移率,結合相關理論公式,計算出Zeta電位。這一原理使得它成為研究膠體化學、生物學、材料科學等領域中粒子表面電荷特性的重要工具。

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