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局部放電檢測(cè)系統(tǒng)的使用方法
閱讀：1231 發(fā)布時(shí)間：2018-10-13
KF-6209型局部放電檢測(cè)系統(tǒng)是根據(jù)IEC(270)標(biāo)準(zhǔn)，利用脈沖電流法原理研制而成，并滿足GB-7354-87、GB-1207-97、GB－1208－97中關(guān)于局部放電測(cè)試對(duì)測(cè)試儀器規(guī)定的技術(shù)要求。
1． 根據(jù)試品的容量Ca，耦合電容的大小Ck，選取適合序號(hào)的輸入單元。表1中調(diào)諧電容量系指與輸入單元初級(jí)繞組并聯(lián)的電容（粗略估算以按試品容量與耦合電容的容量串聯(lián)計(jì)算）。例如：試品容量為120ｐF，耦合電容量為1000ｐF，則所需檢測(cè)阻抗為有 ≈107，查表1可取2號(hào)單元。
輸入單元應(yīng)盡量靠近試品，輸入單元經(jīng)8米長(zhǎng)的測(cè)量電纜與放大器輸入插座相連。
2. 試品接入輸入單元的方法有以下幾種：（其中：Z為阻塞阻抗；Ca為試品；Ck為耦合電容）
