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XAD-200是一款全元素上照式熒光光譜儀，既保留了專用測厚儀檢測微小樣品和凹槽的膜厚性能，又可滿足RoHS有害元素檢測及成分分析，搭載全自動平臺實現(xiàn)XYZ軸編...
鍍層測厚儀：多元迭代的EFP算法充分運用各種已知條件及譜圖，參與運算出更多使用者需求的檢測結(jié)果，關(guān)聯(lián)：已知、未知及半定量，成分、密度、輕元素、有機物、化合物等等...
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