上海X射線鍍層測厚儀Thick800A 是一款快速、無損、檢測鍍層厚度新型儀器。主要應用于：金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定； 、鉑、銀等貴金屬和各種飾的含量檢測，可以檢測如鍍金、鍍鎳、鍍銅、鍍鉻、鎳鋅、鍍銀、鍍鈀等，多一次分析五層。 分析元素范圍：從硫（S）到鈾（U） 同時檢測元素：多24個元素，多達五層鍍層 檢出限：可達2ppm，薄可測試0.005μm 分析含量：一般為2ppm到99.9% 鍍層厚度：一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）重復性：可達0.1% 穩(wěn)定性：可達0.1% SDD探測器：分辨率低135eV 采用的微孔準直技術(shù)，小孔徑達0.1mm，小光斑達0.1mm 樣品觀察：

上海X射線鍍層測厚儀Thick800A 配備全景和局部兩個工業(yè)高清攝像頭 準直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與 Ф0.3mm四種準直器組合 儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm 樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm 樣品臺尺寸：393(W)x 258 (D）mm X/Y/Z平臺移動速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s X/Y/Z平臺重復定位精度 ：小于0.1um 操作環(huán)境濕度：≤90% 操作環(huán)境溫度 15℃～30℃。