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掃描電子顯微鏡在高分子中的常見(jiàn)應(yīng)用有哪些？
掃描電子顯微鏡（SEM）利用二次電子信號(hào)成像來(lái)觀察樣品的表面形態(tài)，在巖土、石墨、陶瓷及納米材料等的研究上有廣泛應(yīng)用。
SEM在高分子中的常見(jiàn)應(yīng)用：
（1）觀察高聚物的形態(tài)和結(jié)構(gòu)；
（2）觀察結(jié)晶高聚物的晶態(tài)結(jié)構(gòu)；
（3）研究材料共混相容性；
（4）觀察高分子納米材料結(jié)構(gòu)；
（5）表征高分子材料的降解性；
（6）研究高分子材料的生物相容性；
（7）研究多孔材料表面或斷面的孔特征。
和光學(xué)顯微鏡及透射電鏡相比，掃描電鏡具有以下特點(diǎn)：
(1)能夠直接觀察樣品表面的結(jié)構(gòu)，樣品的尺寸可大至120mm×80mm×50mm。
(2) 樣品制備過(guò)程簡(jiǎn)單，不用切成薄片。
(3) 樣品可以在樣品室中作三度空間的平移和旋轉(zhuǎn)，因此，可以從各種角度對(duì)樣品進(jìn)行觀察。
(4) 景深大，圖象富有立體感。掃描電鏡的景深較光學(xué)顯微鏡大幾百倍，比透射電鏡大幾十倍。
(5) 圖象的放大范圍廣，分辨率也比較高。可放大十幾倍到幾十萬(wàn)倍，它基本上包括了從放大鏡、光學(xué)顯微鏡直到透射電鏡的放大范圍。分辨率介于光學(xué)顯微鏡與透射電鏡之間，可達(dá)3nm。
(6) 電子束對(duì)樣品的損傷與污染程度較小。
(7) 在觀察形貌的同時(shí)，還可利用從樣品發(fā)出的其他信號(hào)作微區(qū)成分分析。